Ein neues Hybrid Messsystem bestimmt gleichzeitig den Schichtwiderstand sowie die optische Transparenz von Dünnschichten. SURAGUS stellt neue berührungslose Messgeräte für Dünnschichten auf der Intersolar Europe 2014 Stand 536 Halle A3 vor.
Inline Sheet Resistance Measurement by EddyCus TF inline
Hybrid-Messtechnik für Dünnschichten - Intersolar Europe 2014
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Pressemitteilung Dresden, den 30.05.2014
Hybrid-Messtechnik für Dünnschichten auf der Intersolar Europe
2014
Die SURAGUS GmbH stellt auf der Intersolar Europe 2014 in München zwei
neuartige Messsysteme zur zerstörungsfreien Prüfung von Dünnschichten vor.
Im Mittelpunkt steht dabei der berührungslos arbeitende EddyCus® TF lab
Hybrid. Das Messgerät bestimmt den Schichtwiderstand und gleichzeitig die
optische Transparenz von Dünnschichten. Damit präsentiert das mit dem
sächsischen Innovationspreis ausgezeichnete Dresdner Unternehmen eine
innovative und schnelle Lösung zur berührunslosen Charakterisierung von
verdeckten leitfähigen Dünnschichten.
Eine weitere Neuheit ist der Schichtwiderstands-Mapper EddyCus® TF map
2020SR. Das neue Mappingssystem ermöglicht die berührungslose
Echtzeitmessung des Schichtwiderstandes und der Schichtdicke von hoch
und niedrig leitfähigen Dünnschichten auf Glas, Wafern, Kunststoff- und
Metallfolien. Dabei liefert das Gerät ein besonders hochauflösendes
Leitfähigkeitsbild des Schichtwiderstandes und der Schichtdicke.
Die Intersolar Europe ist eine der weltweit größten Fachmessen für die
Solarwirtschaft. Vom 4. Bis 6. Juni stellen dort rund 1100 Aussteller ihre
Produkte vor.
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Weitere Informationen unter:
http://www.suragus.com/de
http://www.sheet-resistance-measurement.com
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SURAGUS Profil
Die SURAGUS GmbH ist eine Ausgründung des Fraunhofer Instituts für zerstörungsfreie
Prüfverfahren Dresden und entwickelt Systeme zur berührungslosen inline- und offline-
Charakterisierung von Dünnschichten. Diese beinhaltet u. a. die Messung des
Schichtwiderstandes und der Schichtdicke von dünnen Metallbeschichtungen (Al, Mo,
Zn, Ag), funktionalen transparenten Dünnschichten auf Glas auf Folie (ITO, Graphene,
Metall grid, CNT, Nanodrähte) und Wafer-basierten Systemen über Einpunkt-Meßgeräte
sowie Inline und Mapping-Lösungen. Außerdem bietet das Unternehmen
hochauflösende Leitfähigkeits-Mapping-Systeme zur Fehlerdetektion und
Qualitätssicherung einfacher sowie komplexer Schichtsysteme an.
Zusammenfassung
Ein neues Hybrid Messsystem bestimmt gleichzeitig den Schichtwiderstand sowie die
optische Transparenz von Dünnschichten. SURAGUS stellt neue berührungslose
Messgeräte für Dünnschichten auf der Intersolar Europe 2014 Stand 536 Halle A3 vor.