Affidabilità di Componenti, Circuiti e Sistemi Elettronici:"Studio della Data Retention di memorie PCM con test accelerati in temperatura"

1. Affidabilità di componenti, circuiti e sistemi elettronici A.A. 2007-2008 Università degli studi di Ferrara Dipartimento di Ingegneria Studio della Data Retention con test accelerati in temperatura Studenti: Sferrazza Giovanni Prof. Andrea Chimenton

3. Tempi di misura: ANALISI N° 1 A 150°C Misura numero: min i Δmin=(min i -min i1 ) 1 0 0 2 10 10 3 20 10 4 100 80 5 200 100 6 300 100 ANALISI N° 2 A 100°C Misura numero: min i Δmin=(min i - min i-1 ) 1 0 0 2 10 10 3 20 10 4 100 80 5 200 100 6 600 400 ANALISI N° 3 A 80°C Misura numero: min i Δmin=(min i - min i-1 ) 1 0 0 2 10 10 3 20 10 4 100 80 5 200 100 6 1000 800 7 1440 440 ANALISI N° 4 A 50°C Misura numero: min i Δmin=(min i - min i-1 ) 1 0 0 2 10 10 3 20 10 4 100 80 5 200 100 6 1000 800 7 2000 1000 8 2880 880

4. Distribuzioni delle correnti Coda

5. Distribuzioni delle correnti Correnti elevate a zero minuti

6. Dati a zero minuti scartati dal campione -Maggiore uniformità delle diverse distribuzioni di corrente -Scelta della soglia a 2,5 μA

8. Problemi dovuti allo stress in temperatura Anomalie delle CDF dai 200 min

9. Plotting dei fallimenti Indagini su possibili problemi architetturali Incremento improvviso dei fallimenti: - a 100°C tra 100 e 200 min - a 50°C tra 200 e 1000 min

10. Problemi dei decoder di colonna

11. Anomalie periodiche delle righe

13. Distribuzioni Weibull, Lognormale e Normale Test chi2 non superato

15. Eliminazione delle colonne Distribuzione di Poisson: Pk =(a k /k!)exp(-a) con k=7

16. Test CHI2 non superato e Minima variazione del risultato! Dipendenza distribuzioni dalla temperatura

17. Eliminazione delle righe -Eliminazione delle righe multiple di 32: N° di fallimenti non sufficiente ai fini statistici - Eliminazione delle righe multiple di 64: si è proceduto con l’analisi

18. Plotting dei fallimenti prima e dopo Riduzione del gradino

19. Distribuzioni Weibull Test chi2 non superato

20. Distribuzione Lognormale Test chi2 non superato

21. Dipendenza distribuzioni dalla temperatura Approssimativamente parallele Divergono