SlideShare ist ein Scribd-Unternehmen logo
1 von 372
P. Reyes CONTROL ESTADÍSTICO  DEL PROCESO Dr. Primitivo Reyes A.
CONTROL ESTADÍSTICO DEL PROCESO  (CEP) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
CONTENIDO ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
P. Reyes 1. Importancia de  la mejora continua
1. Importancia de la mejora continua ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1. Importancia de la mejora continua ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1. Importancia de la mejora continua ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1... Antecedentes históricos ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1... CEP en Occidente – Western Electric ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1... CEP en Japón ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1... Antecedentes históricos ,[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
4...Métodos de calidad para Manufactura Delgada ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
P. Reyes 1... Inspecciones de calidad Inspección 100% Auditoría Proc. Control Estadístico del Proceso CEP En la Fuente Separa “buenos” de “malos” Ni asegura Ni mejora Investigación de Causas Convive con los defectos Ayuda a estabilizar el proceso Mejora pero no evita los def. EVITA EL ERROR IMPIDE DEFECTOS
1... Métodos estadísticos para la mejora ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes Carta X LSC MEDIA LIC
1... Métodos estadísticos para la mejora ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1... Métodos estadísticos para la mejora ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1... Administración por Calidad Total ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1. Manual de Calidad 2. Procedimientos 3. Instructivos Formatos Vacios Formatos Llenos 4. Formatos  y Registros Documentos controlados Política Registros de calidad 1.. E l  S istema   de  C alidad El Sistema de Calidad se debe Establecer,  Documentar e Implantar en forma Efectiva: QS 9000  ISO 9000:2000 Implantación de la política El “Cómo” de los procedimientos Planes de Calidad
1... Administración por Calidad Total ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
1... El CEP y la Administración por Calidad Total  ,[object Object],P. Reyes
1... Los costos de calidad ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
P. Reyes 2. Métodos y filosofía del control estadístico de proceso (CEP)
No existen en la naturaleza dos cosas exactamente iguales, ni siquiera los gemelos , por tanto la variación es inevitable y es analizada por la Estadística P. Reyes 2 .  Métodos y filosofía del CEP
P. Reyes “ La estadística nos proporciona métodos para organizar y  resumir información, usándola para obtener diversas conclusiones” Por ejemplo, sí deseamos saber el promedio de peso de las personas en una población tenemos dos opciones: Pesar a todas y cada una de las personas, anotar y organizar los datos, y calcular la media.  Pesar solo una porción o subconjunto de la población (muestra).  Registrar y organizar los datos y calcular la media de la muestra, tomándola para pronosticar o Inferir la media de toda la población. 2 .. . La Estadística
P. Reyes 2 ..Definiciones Población:  Es la colección de todos los elementos (piezas, personas, etc.). En nuestro caso sería un número infinito de mediciones  de las características bajo estudio . Muestra:   Es una parte o subconjunto representativo de la población, o sea un grupo de mediciones  de las características . Variable aleatoria:  es una función o regla que asigna uno y sólo un valor de una variable " y"  a cada evento en el espacio muestral. En este caso representa una medición particular. Distribución :  Es la forma del patrón de variación observado. .
P. Reyes 2 ..Definiciones Estadístico:  Es una medición tomada en una muestra que sirve para hacer inferencias en relación con una población (media de la muestra, desviación estándar de la muestra). Normalmente es una variable aleatoria y tiene asociada una distribución. Parámetro:  Es el valor verdadero en una población (media, desviación estándar, se indican con letras griegas)  Datos continuos   Los datos que tienen un valor real (temperatura, presión, tiempo, diámetro, altura ) Datos discretos:  Datos que toman valores enteros (1, 2, 3, etc.) Datos por atributos:  Bueno - malo, pasa - no pasa, etc.
P. Reyes 2 ..Histograma El Histograma es una  gr áfica de las frecuencias  que  presenta los diferentes valores de medición y su frecuencia. Una tabla de frecuencias lista los valores y su frecuencia: VALOR FREC. VALOR FREC. 35 1 41 7 36 2 42 6 37 3 43 4 38 6 44 2 39 8 45 1 40 10
P. Reyes 2 . . .Histograma de Frecuencia En un proceso estable las mediciones se distribuyen normalmente, a la derecha y a la izquierda de la media adoptando la forma de una campana.  TAMAÑO  TAMAÑO  TAMAÑO  TAMAÑO  TAMAÑO  M E D I C I O N E S Media M E D I C I O N E S
[object Object],[object Object],P. Reyes ,[object Object],[object Object],LSE LIE 2 . . .Histograma de Frecuencia
P. Reyes 2 ..Las distribuciones pueden variar en: POSICIÓN  AMPLITUD  FORMA …  O TENER CUALQUIER COMBINACION
P. Reyes Media  - Promedio numérico o centro de  gravedad del histograma de mediciones 2. ..Medidas de Tendencia central - Usa todos los datos - Le afectan los extremos X    Fi  i i  1 Donde,  Fi = Frecuencia de cada medición x i  = Valor de cada medición  individual Mediana  - Es el valor que se encuentra en medio de los datos o mediciones Moda  - Es el valor que más se repite Fi*Xi n 
[object Object],[object Object],P. Reyes ,[object Object],[object Object],Mediana Valor mínimo Valor máximo Mediana inferior Mediana superior 2. .. Gráficas de caja
P. Reyes 2 . . .Medidas de variabilidad o  Dispersión – Desviación Estándar  S es usada cuando los datos corresponden a una muestra de la población. Como es el caso de una muestra de mediciones.    típicamente es usada si se está considerando a toda la población    (Fi*X i 2  )- [  (Fi*Xi)] 2 /n i=1 n n - 1 s  =    (x i  - x) 2 i=1 n n    =
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2 ..Medidas de  Dispersión- Rango, CV
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2 ..Uso de Calculadora científica
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2. ..Método Manual
[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2... Cálculos en Excel
P. Reyes 2 ...Ejercicio  de Histogramas Datos: 6.40 6.39 6.41 6.39 6.40  6.39 6.40 6.37 6.40 6.38 6.42 6.38 6.40 6.38 6.41 6.40 6.41 6.41 6.43 6.39 6.41 6.35 6.39 6.41 6.43 6.38 6.40 6.42 6.37 6.40 6.37 6.43 6.43 6.39 6.42 6.40 6.42 6.39 6.42 6.38 6.42 6.40 6.38 6.45 6.41 6.39 6.44 6.36 6.44 6.36
P. Reyes 2... Histogramas  con  Datos agrupados El Histograma es una gráfica de las frecuencias que  presenta los diferentes datos o valores de mediciones agrupados en celdas y su frecuencia. Una tabla de frecuencias lista las categorías o   clases  de valores con sus frecuencias correspondientes, por ejemplo:  CLASE FRECUENCIA 1-5  7 6-10 12 11-15 19 16-20 16 21-25 8 26-30 4
P. Reyes 2... Definiciones - datos agrupados Límite inferior y superior de clase  Son los numeros más pequeños y más grandes respectivamente que  pertenecen a las clases (del ejemplo, 1 y 5; 6 y 10;  11 y 15; 16 y 20; 21 y 25; 26 y 30) Marcas de clase Son los puntos medios de las clases (del ejemplo 3,  8, 13, 18, 23 y 28) Fronteras de clase  Se obtienen al incrementar  los límites superiores de clase y al decrementar los inferiores en una cantidad igual a la media de la diferencia entre un límite superior de clase y el siguiente límite inferior de clase (en el ejemplo, las fronteras de clase son 0.5, 5.5, 10.5, 15.5, 20.5, 25.5 y 30.5) Ancho de clase Es la diferencia entre dos límites de clase inferiores consecutivas(en el ejemplo, es 5).
P. Reyes Construcción del histograma - datos agrupados Paso 1. Contar los datos (N) Paso 2. Calcular el rango de los datos R = (Valor mayor- valor menor) Paso 3. Seleccionar el número de columnas o celdas del histograma (K). Como referencia si N = 1 a 50, K = 5 a 7; si N = 51 - 100; K = 6 - 10.  También se utiliza el criterio K = Raíz (N) Paso 4. Dividir el rango por K para obtener el ancho de clase Paso 5. Identificar el límite inferior de clase más conveniente y sumarle el ancho de clase para formar todas las celdas necesarias Paso 6. Tabular los datos dentro de las celdas de clase Paso 7. Graficar el histograma y observar si tiene una forma normal
P. Reyes Ejemplo : Datos agrupados Datos: 19 21 25 33 30 27 31 25   35 37 44 43 42 39 43 40 38 37 36 42 41 44 32 45 46 47 45 54 52 50 48 49 47 48 49 47 52 51 50 49 58 59 61 62 63 59 61 66 76 70
P. Reyes 2... Construcción del histograma Paso 1. Número de datos N = 50 Paso 2. Rango  R = 76 - 16 = 60 Paso 3. Número de celdas K = 6;  Paso 4. Ancho de clase = 60 / 6 = 10 Paso 5. Lím. de clase:  15-24, 25- 34, 35- 44, 45- 54, 55 - 64, 65-74, 75-94 Paso 6. Número de datos:  2  7  14  17  7  2 1   Marcas de clase  19.5  29.5  39.5  49.5  59.5  69.5  79.5   Paso 7. Graficar el histograma y observar si tiene una forma normal
P. Reyes 2... Construcción del histograma
P. Reyes Media - Promedio numérico o centro de  gravedad del histograma 2...Cálculo de la media - datos agrupados - Usa todos los datos - Le afectan los extremos x    Fi  i i  1 Donde,  Fi = Frecuencia de cada observación x i  = Valor de cada marca de clase Mediana  - Es el valor que se encuentra en medio de los datos  Moda - Es el valor que más se repite Fi*Xi n 
P. Reyes 2... Desviación Estándar -  Datos agrupados  S es usada cuando los datos corresponden a una muestra de la población Nota: Cada Xi representa la marca de clase    típicamente es usada si se está considerando a toda la población NOTA: Para lo cálculos con Excel, se puede utilizar el mismo método que para datos no agrupados de la página 13, tomando como  Xi los valores de las marcas de clase.     (Fi*X i 2  )- [  (Fi*Xi)] 2 /n i=1 n n - 1 s  =    (x i  - x) 2 i=1 n n    =
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2...Histograma en Excel
[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2...Histograma en Excel
P. Reyes 2...Histograma en Excel
P. Reyes Ejercicio Datos: 19.5 21.3 21.3 21.3 21.3 21.2 21.4 21.4 21.4 19.6 21.3 21.4 21.3 21.3 20.9 19.5 21.3 21.5 19.6 21.4 21.5 19.8 21.0 20.6 21.5 19.7 21.3 21.3 21.3 19.7 19.8 21.4 21.4 19.9 21.3 19.8 21.6 20.4 21.4 21.4 21.4 21.4 19.6 21.5 21.2 21.4 21.5 21.4 21.5 21.4 19.8 19.8 21.2 21.3 19.4 21.4 21.4 21.3 21.3 19.7 20.1 19.9 21.3 19.5 21.3 21.2 21.4 21.6 21.4 19.8 21.3 19.4 19.8 21.3 21.2 21.4 21.6 21.4 19.8 21.3 19..4 21.3 21.2 21.3 21.6 21.4 21.5 20.2 19.4  21.1  21.3 20.2 21.4 19.7 21.4 20.1 21.3 21.4 21.5 19.5
2 ...La Distribución Normal P. Reyes
P. Reyes 2 ...La distribución Normal La distribución normal es una distribución de probabilidad que tiene media 0 y desviación estándar de 1. El área bajo la curva o la probabilidad desde menos infinito a más infinito vale 1. La distribución normal es simétrica, es decir cada mitad de curva tiene un área de 0.5. La escala horizontal de la curva se mide en desviaciones estándar, su número se describe con Z. Para cada valor Z se asigna una probablidad o área bajo la curva mostrada en la Tabla de distribución normal
P. Reyes X Para la población - se incluyen  TODOS  los datos Para la muestra 2 ...La distribución Normal x x+s x+2s x+3s x-s x-2s x-3s       
P. Reyes La desviación estándar sigma representa la  distancia de la media al punto de inflexión de la  curva normal 2 ...La distribución Normal Estándar z 0 1 2 3 -1 -2 -3 x x+  x+2  x+  3 x-  x-2  x-3  X
P. Reyes 68% 34% 34% 95% 99.73% + 1s + 2s + 3s 2 . . .Características de la distribución normal
P. Reyes 2 ...El valor de z Determina el número de desviaciones estándar entre algún valor  x   y la  media de la población ,   .   Donde      es la  desviación estándar de la población . En Excel usar  Fx, STATISTICAL, STANDARDIZE,  para calcular el valor de Z z =  x -   
P. Reyes 68% 34% 34% 13.5%   13.5% 95% 68% 34% 34% 13.5%   13.5% 99.73% 68% 34% 34% 2.356% 2.356% 2. ..Proceso con media =100 y desviación estándar = 10 70  80  90  100  110  120  130 90  110 80    120 70      130
P. Reyes _ X xi s Z LIE Especificación  inferior LSE Especificación  superior p = porcentaje de partes fuera de Especificaciones
2. ..Áreas bajo la curva normal P. Reyes
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2. ..Áreas bajo la curva normal
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2. ..Cálculos con Excel
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 2. ..Cálculos con Excel
P. Reyes ¿ Que porcentaje de las baterías se espera que duren 80 horas o menos? z  = (x-m) /s z =  (80-85.36)/(3.77)=  - 5.36/ 3.77 = -1.42 2. ..Área bajo la curva normal 85.36 80 -1.42 0
P. Reyes 86 87 85.36 ¿Cuál es la probabilidad de que una batería dure entre 86.0 y 87.0 horas?  2. ..Área bajo la curva normal 0 1
P. Reyes ¿ Cuál es la probabilidad de que una batería dure más de 87 horas? 1.67 = .33 ó 33% de las veces una batería durará más de 87 horas 2. ..Área bajo la curva normal 85.36 87
P. Reyes Conside re  una media de peso de estudiantes de  75 Kgs . con una desviación estándar de  10Kgs . Contestar lo siguiente : 1. ¿Cuál es la probabilidad de que un estudiante pese más de  85Kgs. ? 2. ¿Cuál es la probabilidad de que un estudiante pese menos de  50Kgs. ? 3. ¿Cuál es la probabilidad de que pese entre  60  y  80   Kgs. ?. 4. ¿Cuál es la probabilidad de que pese entre  55  y  70   Kgs. ? 5. ¿Cuál es la probabilidad de que pese entre  85  y  100Kgs .? 2. ..Ejercicios
2... Las 7 herramientas estadísticas ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Las 7 herramientas estadísticas ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Las 7 herramientas estadísticas ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Causas de variación y bases estadísticas del CEP ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Beneficios de las cartas de control ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2.. Diseño de la carta de control ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Factores de éxito para  la implantación del CEP ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Cartas de Control por Variables ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Estabilización del proceso  con cartas de control ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Cartas de Control por Variables -  Metodología de implantación ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Cartas de Control por Atributos ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Cartas de Control por Atributos ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Cartas de Control tipo  p ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Cartas de Control tipo  p ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
2... Cartas de Control tipo  c, u ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
P. Reyes 3. Cartas de control por variables
P. Reyes 1. El teorema del límite central 2. Teoría de las Cartas de Control 3. Cartas de control para variables 4. Ejercicios de aplicación 3. CONTENIDO
P. Reyes 3.1 Teorema del Límite Central
3.1Teorema del Límite Central ,[object Object],[object Object],P. Reyes
[object Object],[object Object],3.1..Teorema del Límite Central P. Reyes
[object Object],3.1Teorema del Límite Central P. Reyes Seleccionando muestras de tamaño n y calculando la X-media o promedio en cada una X-media 1  X-media 2   X-media 3 Conforme el tamaño de muestra se incrementa las muestras se distribuyen normalmente con media de medias     y desviación estándar de las medias de las muestras    /   n . También se denomina  Error estándar de la media.
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],3.1Teorema del Límite Central P. Reyes
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],3.1Teorema del Límite Central P. Reyes
P. Reyes 3.2  Teoría de las  Cartas de Control
PROPÓSITO ,[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
3.2  ¿Qué es una Carta de Control? ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
3.2  Reglas Básicas ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
3.2 Variación observada  en una Carta de  Control   ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
3.2  Causas comunes o normales ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 14
3.2 Variación – Causas comunes P. Reyes Límite inf. de especs. Límite sup. de especs. Objetivo 15
3.2  Causas Especiales ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes 16
3.2 Variación – Causas especiales P. Reyes Límite inf. de especs. Límite sup. de especs. Objetivo 17
P. Reyes LSC  Límite Superior de Control LIC  Límite Inferior de Control Promedio (o línea central) Respuesta ,[object Object],[object Object],[object Object],3.2  Anatomía de una Carta de  Control   Carta de control Estadístico Número de Muestra
P. Reyes Corridas   7 puntos consecutivos de un lado de X-media. Puntos fuera de control   1 punto fuera de los límites de control a 3 sigmas en cualquier dirección (arriba o abajo). Tendencia ascendente o descendente  7 puntos consecutivos aumentando o disminuyendo. Adhesión  a la media 15 puntos consecutivos dentro de la banda de 1 sigma del centro . Otros 2 de 3 puntos fuera de los límites a dos sigma 3.2  Patrones Fuera de Control
P. Reyes Proceso en Control estadístico Sucede cuando no se tienen situaciones anormales y aproximadamente el 68% (dos tercios) de los puntos de la carta se encuentran dentro del   1    de las medias en la carta de control. Lo anterior equivale a tener el 68% de los puntos dentro del tercio medio de la carta de control. 3.2  Patrón de Carta  en Control Estadístico
3.2 Tipos de Cartas de control ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
3.2  Tipos de Cartas de control ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
P. Reyes 3.3 Construcción de Cartas  de Control para variables
P. Reyes 3.3.Carta  X, R  (Datos variables ) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) Terminología k = número de subgrupos;  n = número de muestras en cada  subgrupo X = promedio para un subgrupo X = promedio de todos los promedios de  los subgrupos  R = rango de un  subgrupo R = promedio de todos los rangos de los subgrupos  x = x 1  + x 2  + x 3  + ...+ x N  k = x 1  + x 2  + x 3  + ...+ x N  n LIC X  = x - A 2  R LIC R  = D 3  R LSC X  = x + A 2  R LSC R  = D 4  R NOTA: Para el cálculo de los límites de control  usar los factores mostrados en las tablas correspondientes a cada valor de  n estos factores para calcular Límites de Control) x
P. Reyes ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],3.3.Carta X, R (Continuación )
P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) Ejemplo 1:  Psi en un componente. Se toman muestras de Cinco componentes cada día. n = # muestras en un subgrupo/día = 5 k = # de subgrupos (días) = 10 X = 74.6  R = 36.0
P. Reyes Ejemplo 1: 3.3.Carta X, R (en Excel) 1 0 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 1 0 0 9 0 8 0 7 0 6 0 5 0 S u b g r o u p Medias X = 7 4 . 6 0 3 . 0 S L = 9 5 . 3 6 - 3 . 0 S L = 5 3 . 8 4 8 0 7 0 6 0 5 0 4 0 3 0 2 0 1 0 0 Rangos R = 3 6 . 0 0 3 . 0 S L = 7 6 . 1 2 - 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0 Gráfica Xbar/R para Muestra1-Muestra5 ¿Cuál gráfica se analiza primero? ¿Cuál es su conclusión acerca del proceso ?
P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) Ejemplo 2:  Peso de partes  medido diariamente, 5 muestras por día. n = # muestras en un  subgrupo (día) = 5 k = # de subgrupos (días) = 10 X = 77.2  R = 18
P. Reyes Ejemplo 2: 3.3.Carta X, R (en Excel) 1 0 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 1 0 5 9 5 8 5 7 5 6 5 5 5 4 5 S u b g r o u p Medias 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 X = 7 7 . 1 8 3 . 0 S L = 8 7 . 5 6 - 3 . 0 S L = 6 6 . 8 0 5 0 4 0 3 0 2 0 1 0 0 Rangos 1 R = 1 8 . 0 0 3 . 0 S L = 3 8 . 0 6 - 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0 ,[object Object],Gráfica Xbar/R para Muestra1-Muestra5
P. Reyes 3.3..Hacer una carta X-R y concluir: MUESTRA  VALORES 1 12 12 13 15 12 2 15 17 16 17 18 3 13 18 14 14 15 4 10 12 11 10 11 5 13 16 15 16 15 6 15 12 13 15 11 7 15 16 15 16 15 8 15 17 15 17 14 9 22 17 16 17 14 10 16 15 17 15 18 11 16 18 16 16 16 12 15 16 17 17 14 13 17 15 16 15 16 14 16 15 18 18 16 15 17 19 17 15 17 16 19 17 15 15 17 17 16 19 16 15 14 18 16 15 17 16 18 19 17 13 17 15 14 20 19 18 17 15 16
P. Reyes ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],3.3.Carta X, S
P. Reyes 3.3.Carta X, S (Continuación) Terminología k = número de subgrupos  n = número de muestras en cada  subgrupo x = promedio para un subgrupo x = promedio de todos los promedios de  los subgrupos  S = Desviación estándar de un  subgrupo S = Desviación est. promedio de todos los subgrupos  x = x 1  + x 2  + x 3  + ...+ x N  k = x 1  + x 2  + x 3  + ...+ x N  n LIC X  = x - A 3  S LICs = B 3  S LSC X  = x + A 3  S LSC S  = B 4  S (usar estos factores para calcular Límites de Control n  5 6  7  8  9  10 B 4   2.09  1.97  1.88  1.82  1.76  1.72  B 3   0.00  0.03  0.12  0.18  0.24  0.28  A 3   1.43  1.29  1.18  1.10  1.03  0.98  C 4  .940  .952  .959  .965  .969  .973  x
P. Reyes 3.3.Carta de Individuales (Datos variables ) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) Terminología k = número de piezas n = 2 para calcular los rangos x = promedio de los datos R = rango de un  subgrupo de dos piezas consecutivas R = promedio de los (n - 1) rangos  = x 1  + x 2  + x 3  + ...+ x N  n LIC X  = x - E 2  R LIC R  = D 3  R LSC X  = x + E 2  R LSC R  = D 4  R (usar estos factores para calcular Límites de Control n = 2) n  2 D 4 3.27 D 3 0 E 2 2.66 x
P. Reyes 3.3. Ejemplo: Carta I  (en Excel) 1 5 1 0 5 0 1 2 . 3 5 1 2 . 2 5 1 2 . 1 5 1 2 . 0 5 1 1 . 9 5 1 1 . 8 5 1 1 . 7 5 1 1 . 6 5 Número de Observación Valor Individual Carta I para Longitud de parte 1 6 6 6 8 X = 1 2 . 0 3 3 . 0 S L = 1 2 . 3 0 - 3 . 0 S L = 1 1 . 7 5 Observar la situación fuera de control
P. Reyes ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],3.3. Ejercicios de Cartas I o X, R   MUESTRA 1   MUESTRA 2 11 16 2.97 12 15 2.95 13 17 2.95 14 16 2.86 15 17 2.89 16 19 2.86 17 16 2.85 18 16 2.78 19 17 2.89 20 19 2.78
P. Reyes 4. Cartas de Control para atributos
4. Cartas de control para atributos P. Reyes   Datos de Atributos Tipo   Medición  ¿ Tamaño de Muestra ? p  Fracción de partes defectuosas,   Constante o variable > 30 defectivas o no conformes np  Número de partes defectuosas   Constante > 30 c  Número de defectos   Constante = 1 Unidad de    inspección u  Número de defectos por unidad   Constante o variable en   unidades de inspección
P. Reyes 4.  Cartas de control para Atributos Situaciones fuera de control ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],Límite Superior de Control Límite Interior de Control Línea Central   Ahora, veamos algunos ejemplos... Carta C Conteo de Muestras Número de Muestras
P. Reyes 4.  Carta p  (Atributos) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],Terminología n =   tamaño de cada muestra (por ejemplo, producción semanal) np =  número de unidades defectuosas en cada muestra p =   proporción (porcentaje) de defectos en cada muestra -  (fracción defectiva) k =   número de muestras
P. Reyes 4. Carta p  (Atributos) pi =  = np  # de productos defectivos en cada muestra ni   # de productos inspeccionados en la muestra Cálculo de los límites de control  = n 1  p 1  + n 2 p 2  + n 3  p 3  + ...+ n k  p k n 1  + n 2  + n 3  + ...  + n k LSC = LIC = Nota:  Recalcular los límites en cada  muestra (ni) si  n  es variable Fracción defectiva promedio p (1-  ) p p  n p + 3 (1-  ) p p  n p - 3
P. Reyes 4. Carta p  (Cont...) Ejemplo:  Algunos componentes no pasaron la inspección final. Los datos de falla se registraron semanalmente tal como se muestra a continuación. n  np  p K = 13 semanas
P. Reyes 1 0 5 0 0 . 5 0 . 4 0 . 3 0 . 2 0 . 1 0 . 0 Número de muestra Proporción Gráfica P para Fracción Defectiva P = 0 . 1 1 2 8 3 . 0 S L = 0 . 4 4 8 4 - 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0 4...Carta p (Cont..) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],LSC LIC Ejemplo: p
P. Reyes 4... Carta np  (Atributos) ,[object Object],[object Object],[object Object],Terminología  (igual a gráfica p, aunque n es constante) n =   tamaño de cada muestra (Ejemplo: producción semanal) np =  número de unidades defectuosas en cada muestra k =   número de muestras
P. Reyes 4...Carta np  (Atributos) np = # de productos defectuosos en una muestra n = tamaño de la muestra k = Número de muestras o subgrupos p = Suma de productos defectuosos / Total inspeccionado [n * k] Cálculo de los límites de control  np  =  n   p 1  + np 2  + n   p 3  + ...+ np k k np + 3 LSC = LIC = np (1-p) np - 3 np (1-p)
P. Reyes 4...Carta np  (Cont..) n  np K=15 lotes Ejemplo 1: en un proceso se inspeccionan  K = 15 lotes  tomando  n = 4000  partes de cada lote, se rechazan algunas partes por tener defectos, como sigue:
P. Reyes 4... Carta np (Cont...) 1 5 1 0 5 0 1 0 5 0 Número de muestras No. De fecetivos Carta  np   de número de defectivos o defectuosos 3 . 0 LSC=10.03 - 3 . 0 S ,[object Object],[object Object],[object Object],LIC Ejemplo 1: LIC=0.0 Np =4.018 np
P. Reyes 4... Carta c  (Atributos) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],Terminología c = Número de defectos encontrados en cada unidad o unidades constantes de inspección k = número de muestras
P. Reyes 4... Carta c  (Atributos) Cálculo de los límites de control  c 1  + c 2  + c 3  + ...+ c k k LSC = LIC = c =  c + 3 c - 3 c c
P. Reyes 4... Carta c  (cont..) Ejemplo:  Número de defectos encontrados en  una unidad de inspección  que consta de 50 partes de cada lote de 75 piezas durante 25 semanas  (K = 11). ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],NOTA: Utilizar Excel para Construir la carta c
P. Reyes 4... Carta c  (cont..) ,[object Object],[object Object],Ejemplo: 2 5 2 0 1 5 1 0 5 0 1 5 1 0 5 0 Número de Muestras Número de defectos Carta  C 1 C = 5 . 6 4 0 3 . 0 L SC = 1 2 . 7 6 - 3 . 0 L IC = 0 . 0 0 0 LSC C
P. Reyes 4...Carta u  (Atributos) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
P. Reyes 4... Carta u  (cont...) Terminología n = tamaño de cada muestra en unidades de inspección (por ejemplo, producción semanal) c = Número de defectos encontrados en cada muestra de unidades de inspección u = defectos por unidad (DPU) k = número de muestras c = # de defectos en una muestra de n unidades de inspección n = Número de unidades de inspección en cada muestra u = c / n = DPU = Número de defectos por unidad
P. Reyes 4... Carta u  (cont...) Cálculo de los límites de control c 1  + c 2  + c 3  + ...+ c k n 1  + n 2  + n 3  + ...+ n k LSC = LIC = Nota:   Recalcular los límites en cada tamaño de muestra (ni) Se puede tomar n promedio o estandarizar para tener Límites de control constantes Número de defectos por Unidad promedio Ui = Ci / ni  Defectos por unidad para cada muestra u + 3 u - 3 u =  u ni u ni
P. Reyes 4... Carta u  (cont..) Ejemplo 1:  Un proceso de soldadura suelda 50 PCBs por semana Los defectos visuales  observados se registran cada semana.  n  c   u k=12 semanas
P. Reyes 4... Carta u  (Cont.) ,[object Object],[object Object],[object Object],Ejemplo 1: 1 0 5 0 6 5 4 3 2 Número de Muestras Conteo de muestras Gráfica U para Defectos 1 1 U = 4 . 1 9 7 3 . 0 L SC = 5 . 0 6 6 - 3 . 0 L IC = 3 . 3 2 8 LSC LIC u
P. Reyes 4... Carta u  (cont...) Ejemplo 2: Defectos encontrado al inspeccionar varios  lotes de productos registrados por semana Lote n    c = Defectos    u = DPU k=20 semanas
P. Reyes 4... Carta u  (cont..) ,[object Object],[object Object],2 0 1 0 0 8 7 6 5 4 3 2 Número de Muestras Número  de efectos Gráfica U para Defectos U = 4 . 9 7 9 3 . 0 L SC = 6 . 7 6 8 - 3 . 0 L IC = 3 . 1 9 0 Ejemplo 2: LSC LIC u
P. Reyes 5. Cartas de control especiales
5. Cartas de Control especiales ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
5.1 Cartas de Control para Corridas Cortas ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
5.2 Cartas de Control Modificadas  y de Aceptación ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
5.3-5 Cartas de Control especiales ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
5 Cartas de Control  especiales por variables ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
P. Reyes Cartas especiales de control
Cartas especiales de control ,[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Cartas de sumas acumuladas CuSum P. Reyes
Gráfica de Sumas acumuladas  ( CuSum ) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de sumas acumuladas CuSum ,[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de sumas acumuladas CuSum – Con Máscara en V ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta CuSum – parámetros de la máscara en V ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Ejemplo de carta Cusum  con Máscara en V P. Reyes 1-  4.925 2-  4.675 3-  4.725 4-  4.350 5-  5.350 6-  5.225 7-  4.770 8-  4.525 9-  5.225 10-  4.600 11-  4.625 12-  5.150 13-  5.325 14-  4.945 15-  5.025 16-  5.223 Target = 5, sigma = 1, h = 2, k =0.5, Vmask
Continuación de ejemplo –  con máscara en V P. Reyes 17.  5.463 18.  5.875 19.  6.237 20.  6.841 Agregando 4 Puntos adicionales Se observa que se Salen los puntos  16, 17 y 18 Requiriendo acción Target = 5, sigma = 1, h = 2, k =0.5, Vmask
Carta CuSum– Sólo un Límite  inferior o superior P. Reyes C I i  =   val or del nivel bajo de la Cusum de un lado inferior en tiempo i C S i = val or del nivel alto de la Cusum de un lado superior en tiempo i Dat os graficados = C I i, C S i Línea central   = 0
Cata CuSum – sólo un Límite  superior o inferior P. Reyes 1-  4.925 2-  4.675 3-  4.725 4-  4.350 5-  5.350 6-  5.225 7-  4.770 8-  4.525 9-  5.225 10-  4.600 11-  4.625 12-  5.150 13-  5.325 14-  4.945 15-  5.025 16-  5.223 17.  5.463 18.  5.875 19.  6.237 20.  6.841 Target = 5, sigma = 1, h = 2, k =0.5, One Sided FIR = 1 sigma, Reset after each signal
Carta CuSum – Forma tabular para un solo límite inf. ó sup. ,[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta CuSum – Forma tabular para un solo límite inf. ó sup. P. Reyes En este caso el Valor de H es 5 H Máscara en V Periodo Xi Xi-10.5 Sh(i) Nh 1 9.45 -1.05 0 0 2 7.99 -2.51 0 0 3 9.29 -1.21 0 0 4 11.66 1.16 1.16 1 5 12.16 1.66 2.82 2 6 10.18 -0.32 2.50 3 7 8.04 -2.46 0.004 4 8 11.46 0.96 1.00 5 9 9.20 -1.30 0 0
Carta EWMA de promedios móviles ponderados exponencialmente P. Reyes
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],P. Reyes Y 52 47 53 49.3 50.1 47 51 EWMA 50 50.6 49.5 50.56 50.18 50.16 49.12 49.75
Carta EWMA del ejemplo P. Reyes Xewma 1-  52.0 2-  47.0 3-  53.0 4-  49.3 5-  50.1 6-  47.0 7-  51.0 8-  50.1 9-  51.2 10-  50.5 11-  49.6 12-  47.6 13-  49.9 14-  51.3 15-  47.8
Carta EWMA ,[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes Z 0   =  X Z 1   =  X 1   + (1-  Z 0 )  Z 2   =  X 2   + (1-  Z 1  ) Z 3   =  X 3   + (1-  Z 2 ) Z 4   =  X 4   + (1-  Z 3 ) Con Z = EWMA Los cálculos, especialmente de los límites de control, son tan complejos que normalmente este tipo de gráfica se realiza por medio de un paquete de computo. UCL subgrupo LCL XII _ _ _ 1  2  3  4  5  6
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],P. Reyes
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de Promedios Móviles Ponderados Exponencialmente (EWMA) ,[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de control de  promedios móviles P. Reyes
Carta de control de Promedios Móviles ,[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
Carta de control de Promedios Móviles ,[object Object],[object Object],P. Reyes
Ejemplo de carta de promedios móviles P. Reyes Xmm 1-  10.5 2-  6.0 3-  10.0 4-  11.0 5-  12.5 6-  9.5 7-  6.0 8-  10.0 9-  10.5 10-  14.5 11-  9.5 12-  12.0 13-  12.5 14-  10.5 15-  8.0
P. Reyes 6. Análisis de capacidad de proceso
P. Reyes 6.  CONTENIDO Introducción 1. Capacidad a partir de histogramas 2. Capacidad a partir de papel normal 3. Capacidad a partir de cartas de control 4. Capacidad de los sistemas de medición
P. Reyes 6.1  Introducción
P. Reyes 6.1  Objetivos de la capacidad del proceso 1. Predecir que tanto el proceso cumple especificaciones 2. Apoyar a diseñadores de producto o proceso en sus modificaciones 3. Especificar requerimientos de desempeño para el equipo nuevo 4. Seleccionar proveedores 5. Reducir la variabilidad en el proceso de manufactura 6. Planear la secuencia de producción cuando hay un efecto interactivo de los procesos en las tolerancias
P. Reyes _ X Xi s Z LIE LSE p = P(Xi)  = porcentaje de partes con probabilidad de estar fuera de Especificaciones
P. Reyes ¿Cómo vamos a mejorar esto? Podemos reducir la desviación estándar... Podemos cambiar la media... O (lo ideal sería, por supuesto) que podríamos cambiar ambas Cualquiera que sea la mejora que lleve a cabo, se deben tomar medidas para  que se mantenga
P. Reyes 6.1 Capacidad a partir de histogramas
P. Reyes 6.1  Procedimiento 1. Seleccionar una máquina donde realizar el estudio 2. Seleccionar las condiciones de operación del proceso 3. Seleccionar un operador entrenado 4. El sistema de medición debe tener habilidad (error R&R < 10%) 5. Cuidadosamente colectar la información 6. Construir un histograma de frecuencia con los datos 7. Calcular la media y desviación estándar del proceso
P. Reyes Nigel´s Trucking Co. 6.1  Teoría del camión y el túnel ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],El proceso debe estar en control, tener capacidad y estar centrado Ancho 9´
P. Reyes 6.1  Capacidad del proceso – Fracción defectiva La capacidad en función de la fracción defectiva del Proceso se calcula En función de la fracción defectiva para cada lado del rango de Especificación. Desv. Est. = Rango medio Constante d2 de acuerdo al tamaño de subgrupo en X-R Los valores de Z inferior y Z superior se calculan de acuerdo a las fórmulas Siguientes: Zi = LIE - promedio del proceso Desviación Estandar LSE - Promedio del proceso Desviación Estandar La fracción defectiva se calcula con las tablas de distribución normal P(Zi) = Área en tabla (-Z)  P(Zs) = 1 – Área corresp. a Zs en tabla (+Z) Zs = Fracción defectiva = P(Zi) + P(Zs)
P. Reyes 6.1  Capacidad del proceso – Cp y Cpk La capacidad potencial del Proceso (Cp) es una medida de la  variación del proceso en relación con el rango de Especificación. Cp = Tolerancia Variación del proceso = LSE - LIE 6 Desviaciones STD. Cpk es una medida de la capacidad real del proceso en función de la posición  de la media del proceso (X) en relación con con los límites de especificación.  Con límites bilaterales da una indicación del centrado. Es el menor de: CpK = LSE - promedio del proceso 3 desviaciones STD y  Promedio del proceso - LIE 3 desviaciones STD La relación de capacidad (CR) es la inversa del cálculo de Cp. Este índice le  indica que porcentaje de la especificación está siendo usado por la variación del  proceso. CR = Rango del proceso Tolerancia = 6 desviaciones STD LSE - LIE Capacidad Cp, Cpk y fracción defectiva
P. Reyes 6.1  Cálculo de la capacidad del proceso Habilidad o capacidad potencial  Cp = (LSE - LIE ) / 6   Debe ser    1  para tener el potencial de  cumplir con especificaciones (LIE, LSE) Habilidad o capacidad real  Cpk = Menor | Z I  - Z S  | / 3 El Cpk debe ser    1 para que el proceso cumpla especificaciones
P. Reyes 6.1.. Ejemplo Se tomaron los datos siguientes: 265 205 263 307 220 268 260 234 299 197 286 274 243 231 267 281 265 214 346 317 242 258 276 300 208 187 264 280 242 260 321 228 250 299 258 267 265 254 281 294 223 260 308 235 283 200 235 246 328 296 276 264 269 235 221 176 248 263 231 334 280 265 272 265 262 271 245 301 280 274 253 287 261 248 260 274 337 250 278 254 274 278 250 265 270 298 257 210 280 269 215 318 271 293 277 290 283 258 275 251
P. Reyes 6.1.. Ejemplo (cont…) Agrupando los datos en celdas se tiene: Intervalo  Marca  Frecuencia Frecuencia  de clase  de clase Frecuencia Relativa  Absoluta 170 - 189  179.5 2 0.02 0.02 190 - 209  199.5 4 0.04 0.06 210-229  219.5 7 0.07 0.13 230-249  239.5 13 0.13 0.26 250-269  259.5 32 0.32 0.58 270-289  279.5 24 0.24 0.82 290-309 299.5 11 0.11 0.93 310-329 319.5 4 0.04 0.97 330-349 339.5 3 0.03 1.00 .
P. Reyes 6.1.. Ejemplo (cont…) El histograma es el siguiente (se observa con forma normal):
P. Reyes 6.1.. Ejemplo (cont…) Calculando la media y la desviación estándar se tiene: X-media = 264.06 s = 32.02 La variabilidad del proceso se encuentra en 6    = 192.12 Si las especificaciones fueran LIE = 200  y LSE = 330 Cp = (330 - 200 ) / 192.2  < 1  no es hábil  el proceso Zi =  (330 - 264.06) / 32.02  Zs = (200 - 264.06) / 32.02  Cpk = menor de Zi y Zs  < 1 el proceso no cumple especificaciones
P. Reyes 6.1.. Ejercicio Calcular la capacidad del proceso con la distribución de frecuencias siguiente considerando LIE = 530 y LSE = 580: Intervalo Frecuencia Frecuencia de clase  Marca de clase Frecuencia Relativa Absoluta  . 531 - 535  533 6 536 - 540 538 8 541 - 545 543 12 546 - 550 548 13 551 - 555 553 20 556 - 560 558 19 561 - 565 563 13 566 - 570 568 11 571 - 575 573 8
P. Reyes 6.2 Capacidad a partir de papel normal
P. Reyes 6.2 Ventajas 1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos como en el histograma, 10 son suficientes 2. El proceso es más sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable en intervalos de clase 3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan a la línea de ajuste 4. Permite identificar la media y la desviación estándar aproximada del proceso. Así como la fracción defectiva, el porcentaje de datos entre cierto rango, el Cp y el Cpk.
P. Reyes 6.2..Procedimiento 1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente, asignándoles una posición (j) entre 1 y  n. 2. Se calcula la probabilidad de cada posición con la fórmula siguiente:  Pj = (j - 0.5) / n 3. En el papel especial normal se grafica cada punto (Xj, Pj) 4. Se ajusta una línea recta que mejor aproxime los puntos  5. Si no hay desviaciones mayores de la línea recta, se considera normal el proceso y se procede a hacer las identificaciones: La media será el punto en X correspondiente a Pj = 0.5 La desv. Estándar es la dif. En Xj correspondiente a Pj = 0.5 y  Pj = 0.84
P. Reyes 6.2... Ejemplo Se tomaron los datos siguientes (Xj), ordenándolos y calculando la probabilidad de su posición (Pj) Pos.J Valor Xj Pj Pos. J Xj Pj  1 197 0.025 11 271 0.525 2 200 0.075 12 275 0.575 3 215 0.125 13 277 0.625 4 221 0.175 14 278 0.675 5 231 0.225 15 280 0.725 6 242 0.325 16 283 0.775 7 245 0.325 17 290 0.825 8 258 0.375 18 301 0.875 9 265 0.425 19 318 0.925 10 265 0.475 20 346 0.975
P. Reyes 6.2... Ejemplo (cont..) Graficando los puntos y ajustándolos con una recta que minimice los errores con cada punto se tiene: 0.5 X Media 0.84 Desv. Estándar Xj Pj LIE Fracción Defectiva
P. Reyes
P. Reyes P - V a l u e : 0 . 5 3 8 A - S q u a r e d : 0 . 3 1 5 A n d e r s o n - D a r l i n g N o r m a l i t y T e s t N : 1 0 0 S t D e v : 1 3 9 . 6 8 2 A v e r a g e : 5 0 4 . 2 3 2 9 0 0 8 0 0 7 0 0 6 0 0 5 0 0 4 0 0 3 0 0 2 0 0 . 9 9 9 . 9 9 . 9 5 . 8 0 . 5 0 . 2 0 . 0 5 . 0 1 . 0 0 1 P r o b a b i l i t y C 1 N o r m a l P r o b a b i l i t y P l o t El trazo normal es el siguiente: El eje  Y es un rango no lineal de probabilidades normales.  El eje X es un rango lineal de la variable que se está analizando. Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi, puede predecirse usando una línea sólida como modelo.  Por ejemplo, sólo más del 20% de los datos del proceso serían valores de  400 o inferiores.
P. Reyes 6.2  Diferentes trazos en papel de probabilidad Normal
P. Reyes 6.2  Ejercicio Tomando los datos siguientes (Xj), calcular la probabilidad (Pj), graficar en papel norma, ajustar valores con una recta, determinar la media, desv. Estándar, si las especificaciones son LIE = 1200  y  LSE = 1800  determinar la fracción defectiva, el Cp y el Cpk. 1210 2105 1275 2230 1400 2250 1695 2500 1900 2625
P. Reyes 6.3  Capacidad a partir de  cartas de control
P. Reyes EN CASOS ESPECIALES COMO ESTOS DONDE LAS VARIACIONES PRESENTES SON  TOTALMENTE INESPERADAS TENEMOSUN PROCESO INESTABLE o  “IMPREDECIBLE”. ? ?  ? ?  ? ?  ?
P. Reyes 6.3  Proceso en control SI  LAS VARIACIONES PRESENTES SON  IGUALES,  SE DICE QUE SE TIENE UN PROCESO  “ESTABLE”. LA DISTRIBUCION SERA  “PREDECIBLE”  EN EL TIEMPO Predicción Tiempo
P. Reyes 6.3  Control y Capacidad de Proceso   Control de Proceso: Cuando la única fuente de variación es normal o de causa común, se dice  que el proceso esta operando  en “CONTROL”. Capacidad de Proceso: Medición estadística de las variaciones de causa común  que son  demostradas por un proceso.  Un proceso es capaz cuando  la causa común de variación cae dentro de las especificaciones del cliente. L a capacidad no se puede determinar a menos que el proceso se encuentre en  Control y Estable.
P. Reyes 6.3  Proceso en control estadístico La distribución de la mayoría de las características medidas forman una curva en forma de campana o normal, si no hay causas especiales presentes, que alteren la normalidad . ¿cuales son las causas comunes? Distribución del Proceso  Area entre 0 y 1s -Probabilidad de Ocurrencia _ x = media  s= sigma; es la  desviación  estándar; medida  de la variación  del proceso. 14 % 14 % 2% 2% -3s  -2s  -1s  x  +1s  +2s  3s 99.73% 34% 34% x
P. Reyes 6.3.. Desviación Estándar del proceso   Donde,  =  Desviación estándar de la población d 2  = Factor que depende del tamaño del subgrupo en la carta de control X - R C 4  = Idem al anterior para una carta X - S NOTA:  En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y RangoMedio=Suma rangos / (n -1)     =  R     =  S  d 2    c 4
P. Reyes 6.3 Capacidad del proceso Cuando las causas comunes son la única variación: C p El índice de capacidad potencial del proceso compara  la amplitud del proceso con  la amplitud especificada. Cp = (LSE - LIE) / 6     Cpk El índice de capacidad real del proceso compara  la media real con el límite de especificaciones más cercano (LE) a esta. _   Cpk =  LE – X  o  Cpk = menor |Z 1  , Z 2 | / 3 3  
P. Reyes 6.3  Ejemplo (carta X - R)   De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3 Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:    = X media de medias    = Rmedio / d2 =77.3 / 2.326 = 33.23     [ d2 para n = 5 tiene el valor  2.326] Si el  límite de especificación es: LIE = 200.  El Cpk = (200 - 264.06) / (77.3) (3) = 0.64   por tanto el proceso no cumple con las especificaciones
P. Reyes 6.3  Ejemplo (carta X - S)  De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: Xmedia de medias = 100 Smedio = 1.05 Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:    = X media de medias    = Smedio / C 4  = 1.05 / 0.94 =  1.117    [ C 4  para n = 5 tiene el valor  0.94 ] Si el  límite de especificación es: LIE = 85 y el LSE = 105.  El Cpk = (105 - 100) / (1.117 ) (3) =  1.492 El Cp = (105 - 85) / 6 (1.117 ) = 2.984 por tanto el proceso es capaz de cumplir  con especificaciones
P. Reyes 6.3  Ejercicios  1) De una carta de control X - R (con subgrupo n = 8) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes (LIE = 36, LSE = 46): Xmedia de medias = 40 Rmedio = 5 2) De una carta de control X - S (con subgrupo n = 6) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes (LIE = 15, LSE = 23): Xmedia de medias = 20 Smedio = 1.5
6.4 Capacidad de los  sistemas de medición P. Reyes
6.4  Definiciones ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
6.4 Posibles Fuentes de la  Variación del Proceso P. Reyes La “Repetibilidad” y  la “Reproducibilidad” (R&R),  son los errores más relevantes en la medición.  Variación del proceso, real Variación de la medición Variación total del proceso, observada Reproducibilidad Repetibilidad Variación dentro de la muestra Estabilidad Linealidad Sesgo Variación originada  por el calibrador Calibración
6.4 Definición de la Repetibilidad P. Reyes REPETIBILIDAD Repetibilidad:   Es la variación de las mediciones obtenidas con un mismo instrumento de medición, cuando es utilizado varias veces por un operador, al mismo tiempo que  mide las mismas características en una misma parte y bajo las mismas condiciones de medición.
P. Reyes 6.4 Definición de la Reproducibilidad Reproducibilidad:   Es la variación, entre promedios de las mediciones hechas por diferentes operadores que utilizan un mismo instrumento de medición cuando miden  las mismas características en una misma parte, bajo las mismas condiciones. Reproducibilidad Operador-A Operador-C Operador-B
P. Reyes 6.4  ESTÁNDARES INTERNACIONALES ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
P. Reyes ,[object Object],[object Object],[object Object],6.4  ESTÁNDARES INTERNACIONALES
P. Reyes Sesgo  es la diferencia entre el promedio observado de las mediciones y el valor verdadero. 6.4 Definición del Sesgo Valor  Verdadero Sesgo
P. Reyes Estabilidad  (o desviación) es la variación total de las mediciones obtenidas con un sistema de medición, hechas sobre el mismo  patrón o sobre las mismas partes, cuando se mide una sola de sus características, durante un período de tiempo prolongado. 6.4  Definición de la Estabilidad Tiempo 1 Tiempo 2
P. Reyes 6.4 Definición de la Linealidad Linealidad  es la diferencia en los valores real y observado, a través del rango de operación esperado del equipo. Rango de Operación del equipo Valor  verdadero Valor  verdadero Rango inferior Rango superior Sesgo  Menor Sesgo  mayor
P. Reyes 6.4 Estabilidad del Calibrador ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes Error R&R   =  RPT 2   +  REPR 2 Para la fase de control del proyecto, sólo substituya la Tolerancia por Variación Total. TV=  R&R  +  PV PV= variación de parte = Rp x K3 %R&R Var. Total = R&R *100
P. Reyes EL VALOR DEL  R&R ES UN PORCENTAJE  DE LA VARIACION  TOTAL  DEL PROCESO: Mientras más mayor sea el % del  R&R, mayor será el área de incertidumbre para conocer la dimensión verdadera de las partes. ERROR TIPO 1:  Pueden estarse aceptando partes que están fuera de especificaciones ERROR TIPO 2:  Pueden estarse rechazando partes que están dentro de especificaciones Lo que fue medido   VARIACIÓN DE PARTE A PARTE LIE LSE OBJETIVO La dimensión  verdadera  de las partes se encuentra en algún lugar de la la región sombreada…
[object Object],[object Object],[object Object],6.4 Estudio de R&R P. Reyes
P. Reyes ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],El Método ANOVA es Más Preciso
6.4 Realizando el estudio R&R P. Reyes ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
6.4 Proc. para realizar un estudio de R&R ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
6.4 Proc. para realizar un estudio de R&R ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],P. Reyes
P. Reyes Planteamiento del problema:   Las partes producidas en el área de producción, se rechazaron en 3% por problemas dimensionales. 6.4 Ejemplo: CTQ:   Mantener una tolerancia ± 0.125” Sistema de Medición :  Se miden las partes con un calibrador de 2”.  Estudio R&R del La dimensión A  es medida por dos  Calibrador: operadores, dos veces en 10 piezas.
P. Reyes Se toman 5 partes y se miden por ambos operadores: Pieza Operador A Operador B Rango A-B #1 4 2 2 #2 3 4 1 #3 6 7 1 #4 5 7 2 #5 9 8 1 Rango Medio = Suma R / 5 = 7 / 5 = 1.4 El error del sistema de medición = 4.33 * Rmedio = 4.33 x 1.4 = 6.1 El error contra tolerancia = (Error / Tol.) *100, por ejemplo si la tolerancia es de 20, el % de error es de 30.5%, siendo inadecuado . 6.4 Método corto
P. Reyes Método Largo con X-media y Rango
P. Reyes 1.  Cálculo de las X-medias
P. Reyes 2.  Cálculo de los Rangos LSCR = D4 x Rmedia Probar que ningún rango salga de control Xpartes Rmedio-A Rmedio-B XmediaP
P. Reyes Ancho de tolerancia====> Número de intentos => Número de partes ==> Número de operadores  K1 4.56 (K1 = 4.56 para 2 ensayos y  3.05 para 3 ensayos)  K2 3.65 X-media máx.=> X - media min   => Diferencia  de X-medias R-media de  => Todos los  operadores K3 (para 10  Partes) 1.62 3. Identificación de Parámetros del Estudio y Cálculos (K2 = 3.65 para 2 operadores y  2.7 para 3 operadores) 0.25 2 10 2 9.3689 9.3584 0.0105 0.0113 r n Rango de  Medias de partes Rpartes
P. Reyes LCmedias = Xmedia de medias +-  A2 x R Carta de Medias X:   Gráficar cada una de las medias de las lecturas de cada operador, calcular media de medias y límites de control y verificar que haya cuando menos el 20% de puntos fuera de control, asegurando que el instrumento discrimina las diferentes partes. Carta de Rangos:  Graficar los rangos de las lecturas de cada operador, calcular rango promedio de ambos operadores y límites de control, verificar que ningún rango sale de límites, en caso contrario repetir las lecturas fuera de control.  6.4 Cartas de control X - R LCrangos  =  D4 x Rmedio  (de ambos operadores)
P. Reyes 0.0515 EV = R x K1 =   Repetibilidad:   La variación del dispositivo de medición (EV) se calcula sobre cada grupo de mediciones tomadas por un operador, en una sola parte. 0.0259 Reproducibilidad:  La variación en el promedio de las mediciones (AV) se calcula sobre el rango de los promedios de todas las mediciones, para cada operador, menos el error del calibrador. Si la raíz es negativa se toma cero. 6.4 Cálculo de R&R AV =  (Xdif * K2) 2   - (DV 2 /(r * n))  =
P. Reyes R&R =  EV 2   + AV 2     = El componente de varianza para  Repetibilidad  y  Reproducibilidad  (R&R) se calcula combinando la varianza de cada componente. PV  =  Rparte x K3  = 0.1021 El componente de varianza para las  partes  (PV), se calcula sobre el rango de los promedios de todas las mediciones, para cada parte. 0.0577 6.4 Cálculo de R&R
P. Reyes TV  =  R&R 2  + PV 2   = 0.1172 La variación total (TV) se calcula combinando la varianza de Repetibilidad y Reproducibilidad y la variación de la parte. 6.4 Cálculo de R&R 20.61 10.36 23.07 Comparando contra la tolerancia (LSE – LIE): %EV  = 100*EV/Ancho de tolerancia  = %AV  = 100*AV/Ancho de tolerancia  = %R&R = 100*R&R/Ancho de tolerancia =
P. Reyes Comparando contra la variación Total del proceso : %EV  = 100*EV/Variación total  = %EV  = 100*AV/ Variación total  = %R&R = 100*R&R/ Variación total = %PV  = 100*PV Variación total  = CRITERIO: El % R&R debe ser menor al 10% 43.95 22.10 49.20 87.06 6.4 Cálculo de R&R
P. Reyes 6.4  Ejercicios   Para un estudio de R&R 2 operadores midieron con el mismo equipo de medición 10 partes en 3 intentos cada uno,obteniendo:  Mediciones  Mediciones Número  de operador A de operador B de parte 1 2 3 1 2 3 1 50 49 50 50 48 51 2 52 52 51 51 51 51 3 53 50 50 54 52 51 4 49 51 50 48 50 51 5 48 49 48 48 49 48 6 52 50 50 52 50 50 7 51 51 51 51 50 50 8 52 50 49 53 48 50 9 50 51 50 51 48 49 10 47 46 49 46 47 48
P. Reyes 7. Métodos de  mejora continua
P. Reyes 7. CONTENIDO ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
P. Reyes 7.1 Proceso de Cambio organizacional
P. Reyes ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
P. Reyes ,[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
P. Reyes Facilitador de Procesos de Recursos Humanos Facilitador de Procesos / Proyectos Facilitador de Mantenimiento / Proyectos P a t r o c i n a d o r e s 7.1  Organización Multifuncional Tipos de equipos: Kaizen, Tarea, Proyectos, CCC,  celdas de mfra., unidades de negocio  Tea
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso
Curso Control Estadístico del Proceso

Weitere ähnliche Inhalte

Was ist angesagt? (20)

Medicion del trabajo
Medicion del trabajoMedicion del trabajo
Medicion del trabajo
 
Cadena cliente proveedor
Cadena cliente proveedorCadena cliente proveedor
Cadena cliente proveedor
 
Análisis de la capacidad de un proceso
Análisis de la capacidad de un procesoAnálisis de la capacidad de un proceso
Análisis de la capacidad de un proceso
 
Modelo de excelencia efqm
Modelo de excelencia efqmModelo de excelencia efqm
Modelo de excelencia efqm
 
Causas comunes, causas especiales de variación de las cartas de control
Causas comunes, causas especiales de variación de las cartas de controlCausas comunes, causas especiales de variación de las cartas de control
Causas comunes, causas especiales de variación de las cartas de control
 
Control Estadistico De Procesos
Control Estadistico De ProcesosControl Estadistico De Procesos
Control Estadistico De Procesos
 
Gestión de la calidad
Gestión de la calidadGestión de la calidad
Gestión de la calidad
 
Taguchi
TaguchiTaguchi
Taguchi
 
Armand Feigenbaum
Armand FeigenbaumArmand Feigenbaum
Armand Feigenbaum
 
La norma iso 9000 2008
La norma iso 9000 2008La norma iso 9000 2008
La norma iso 9000 2008
 
Estudio de-medicion-de-tiempo
Estudio de-medicion-de-tiempoEstudio de-medicion-de-tiempo
Estudio de-medicion-de-tiempo
 
Costos De Calidad
Costos De CalidadCostos De Calidad
Costos De Calidad
 
Elementos iso 9000
Elementos iso 9000Elementos iso 9000
Elementos iso 9000
 
Control estadistico de procesos
Control estadistico de procesosControl estadistico de procesos
Control estadistico de procesos
 
Precursores de la calidad
Precursores de la calidadPrecursores de la calidad
Precursores de la calidad
 
Calidad Total
Calidad TotalCalidad Total
Calidad Total
 
Administración por la Calidad Total
Administración por la Calidad TotalAdministración por la Calidad Total
Administración por la Calidad Total
 
El sistema de gestión de la calidad
El sistema de gestión de la calidadEl sistema de gestión de la calidad
El sistema de gestión de la calidad
 
ANÁLISIS DE FALLAS - ASME
ANÁLISIS DE FALLAS - ASMEANÁLISIS DE FALLAS - ASME
ANÁLISIS DE FALLAS - ASME
 
Cartas de control
Cartas de controlCartas de control
Cartas de control
 

Andere mochten auch

Herramientas para el control estadístico de procesos
Herramientas para el control estadístico de procesosHerramientas para el control estadístico de procesos
Herramientas para el control estadístico de procesosOscar Garcia
 
Control Estadístico de Procesos
Control Estadístico de ProcesosControl Estadístico de Procesos
Control Estadístico de Procesosguestc1ad19
 
Operating Systems - File Management
Operating Systems -  File ManagementOperating Systems -  File Management
Operating Systems - File ManagementDamian T. Gordon
 
Atlas Microbiologia Clinica Pate I
Atlas Microbiologia Clinica Pate IAtlas Microbiologia Clinica Pate I
Atlas Microbiologia Clinica Pate Igraff95
 
Fmcg training modules-bfg
Fmcg training modules-bfgFmcg training modules-bfg
Fmcg training modules-bfgRomy Cagampan
 
Tratamientos contables y tributarios de los costos de producción
Tratamientos contables y tributarios de los costos de producciónTratamientos contables y tributarios de los costos de producción
Tratamientos contables y tributarios de los costos de producciónArturo Zuniga
 
Mango Training for NGOs - key financial concepts and jargon
Mango Training for NGOs - key financial concepts and jargonMango Training for NGOs - key financial concepts and jargon
Mango Training for NGOs - key financial concepts and jargonTerry Lewis
 
Swift Programming Language
Swift Programming LanguageSwift Programming Language
Swift Programming LanguageGiuseppe Arici
 
Hiv recent guidelines naco 2015
Hiv recent guidelines naco 2015Hiv recent guidelines naco 2015
Hiv recent guidelines naco 2015Mehakinder Singh
 
Web Trends to Watch in 2014
Web Trends to Watch in 2014Web Trends to Watch in 2014
Web Trends to Watch in 2014David King
 
Consumer Trends in 2016: 36 Expert Perspectives - Canvas8
Consumer Trends in 2016: 36 Expert Perspectives - Canvas8Consumer Trends in 2016: 36 Expert Perspectives - Canvas8
Consumer Trends in 2016: 36 Expert Perspectives - Canvas8Canvas8
 
Circuit Analysis – DC Circuits
Circuit Analysis – DC CircuitsCircuit Analysis – DC Circuits
Circuit Analysis – DC CircuitsVesa Linja-aho
 
姜俊宇/從資料到知識:從零開始的資料探勘
姜俊宇/從資料到知識:從零開始的資料探勘姜俊宇/從資料到知識:從零開始的資料探勘
姜俊宇/從資料到知識:從零開始的資料探勘台灣資料科學年會
 
Understanding text-structure-powerpoint
Understanding text-structure-powerpointUnderstanding text-structure-powerpoint
Understanding text-structure-powerpointaelowans
 
Actionable Customer Development
Actionable Customer DevelopmentActionable Customer Development
Actionable Customer DevelopmentAndreas Klinger
 

Andere mochten auch (20)

Herramientas para el control estadístico de procesos
Herramientas para el control estadístico de procesosHerramientas para el control estadístico de procesos
Herramientas para el control estadístico de procesos
 
Control Estadístico de Procesos
Control Estadístico de ProcesosControl Estadístico de Procesos
Control Estadístico de Procesos
 
Operating Systems - File Management
Operating Systems -  File ManagementOperating Systems -  File Management
Operating Systems - File Management
 
Rundeck & Ansible
Rundeck & AnsibleRundeck & Ansible
Rundeck & Ansible
 
Atlas Microbiologia Clinica Pate I
Atlas Microbiologia Clinica Pate IAtlas Microbiologia Clinica Pate I
Atlas Microbiologia Clinica Pate I
 
Guia para la_elaboracion_de_proyectos
Guia para la_elaboracion_de_proyectosGuia para la_elaboracion_de_proyectos
Guia para la_elaboracion_de_proyectos
 
Fmcg training modules-bfg
Fmcg training modules-bfgFmcg training modules-bfg
Fmcg training modules-bfg
 
Tratamientos contables y tributarios de los costos de producción
Tratamientos contables y tributarios de los costos de producciónTratamientos contables y tributarios de los costos de producción
Tratamientos contables y tributarios de los costos de producción
 
Mango Training for NGOs - key financial concepts and jargon
Mango Training for NGOs - key financial concepts and jargonMango Training for NGOs - key financial concepts and jargon
Mango Training for NGOs - key financial concepts and jargon
 
Cardiac cycle ppt (2)
Cardiac cycle ppt (2)Cardiac cycle ppt (2)
Cardiac cycle ppt (2)
 
Swift Programming Language
Swift Programming LanguageSwift Programming Language
Swift Programming Language
 
Hiv recent guidelines naco 2015
Hiv recent guidelines naco 2015Hiv recent guidelines naco 2015
Hiv recent guidelines naco 2015
 
Web Trends to Watch in 2014
Web Trends to Watch in 2014Web Trends to Watch in 2014
Web Trends to Watch in 2014
 
Consumer Trends in 2016: 36 Expert Perspectives - Canvas8
Consumer Trends in 2016: 36 Expert Perspectives - Canvas8Consumer Trends in 2016: 36 Expert Perspectives - Canvas8
Consumer Trends in 2016: 36 Expert Perspectives - Canvas8
 
Circuit Analysis – DC Circuits
Circuit Analysis – DC CircuitsCircuit Analysis – DC Circuits
Circuit Analysis – DC Circuits
 
姜俊宇/從資料到知識:從零開始的資料探勘
姜俊宇/從資料到知識:從零開始的資料探勘姜俊宇/從資料到知識:從零開始的資料探勘
姜俊宇/從資料到知識:從零開始的資料探勘
 
Understanding text-structure-powerpoint
Understanding text-structure-powerpointUnderstanding text-structure-powerpoint
Understanding text-structure-powerpoint
 
Mfl Activities
Mfl ActivitiesMfl Activities
Mfl Activities
 
Actionable Customer Development
Actionable Customer DevelopmentActionable Customer Development
Actionable Customer Development
 
Office 365: Do’s and Don’ts, Lessons learned from the field
Office 365: Do’s and Don’ts, Lessons learned from the fieldOffice 365: Do’s and Don’ts, Lessons learned from the field
Office 365: Do’s and Don’ts, Lessons learned from the field
 

Ähnlich wie Curso Control Estadístico del Proceso

Defensa tema 6 andres garcia
Defensa tema 6 andres garciaDefensa tema 6 andres garcia
Defensa tema 6 andres garciaunefm
 
3rd LATSOLAN meeting. Item 9
3rd LATSOLAN meeting. Item 9 3rd LATSOLAN meeting. Item 9
3rd LATSOLAN meeting. Item 9 Soils FAO-GSP
 
SPC básico para Mejorar la Calidad y productividad Ernaldo Conejeros Yáñez
SPC básico para Mejorar la Calidad y productividad Ernaldo Conejeros YáñezSPC básico para Mejorar la Calidad y productividad Ernaldo Conejeros Yáñez
SPC básico para Mejorar la Calidad y productividad Ernaldo Conejeros YáñezErnaldo Conejeros Yánez
 
ACTUALIZACIÓN EN BIOQUÍMICA Control de Calidad en el Laboratorio Clínico 2a p...
ACTUALIZACIÓN EN BIOQUÍMICA Control de Calidad en el Laboratorio Clínico 2a p...ACTUALIZACIÓN EN BIOQUÍMICA Control de Calidad en el Laboratorio Clínico 2a p...
ACTUALIZACIÓN EN BIOQUÍMICA Control de Calidad en el Laboratorio Clínico 2a p...Nazul Becerril
 
Gestion de Calidad - LEF Nemesio Carrillo Corral
Gestion de Calidad - LEF Nemesio Carrillo CorralGestion de Calidad - LEF Nemesio Carrillo Corral
Gestion de Calidad - LEF Nemesio Carrillo CorralFabiola Aranda
 
herramientas de la calidad estadisticas .pdf
herramientas de la calidad estadisticas .pdfherramientas de la calidad estadisticas .pdf
herramientas de la calidad estadisticas .pdfARACELIGINESZARATE1
 
Walter Shewhart_ Grupo 02.pdf
Walter Shewhart_ Grupo 02.pdfWalter Shewhart_ Grupo 02.pdf
Walter Shewhart_ Grupo 02.pdfCamiloVinueza3
 
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Adrian Zaragoza Tapia
 
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Adrian Zaragoza Tapia
 
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Adrian Zaragoza Tapia
 
Control de calidad - Administración de Empresas
Control de calidad - Administración de EmpresasControl de calidad - Administración de Empresas
Control de calidad - Administración de EmpresasUniversidad del Valle
 
Diseño de experimentos
Diseño de experimentosDiseño de experimentos
Diseño de experimentosTEKBILEK
 

Ähnlich wie Curso Control Estadístico del Proceso (20)

SGC clase 4 y 5
SGC clase 4 y 5SGC clase 4 y 5
SGC clase 4 y 5
 
Gestión de la Calidad
Gestión de la CalidadGestión de la Calidad
Gestión de la Calidad
 
Gestión de Proyectos de Calidad
Gestión de Proyectos de CalidadGestión de Proyectos de Calidad
Gestión de Proyectos de Calidad
 
Spc r muro
Spc r muroSpc r muro
Spc r muro
 
Diseo de experimentos
Diseo de experimentosDiseo de experimentos
Diseo de experimentos
 
Defensa tema 6 andres garcia
Defensa tema 6 andres garciaDefensa tema 6 andres garcia
Defensa tema 6 andres garcia
 
3rd LATSOLAN meeting. Item 9
3rd LATSOLAN meeting. Item 9 3rd LATSOLAN meeting. Item 9
3rd LATSOLAN meeting. Item 9
 
SPC básico para Mejorar la Calidad y productividad Ernaldo Conejeros Yáñez
SPC básico para Mejorar la Calidad y productividad Ernaldo Conejeros YáñezSPC básico para Mejorar la Calidad y productividad Ernaldo Conejeros Yáñez
SPC básico para Mejorar la Calidad y productividad Ernaldo Conejeros Yáñez
 
ACTUALIZACIÓN EN BIOQUÍMICA Control de Calidad en el Laboratorio Clínico 2a p...
ACTUALIZACIÓN EN BIOQUÍMICA Control de Calidad en el Laboratorio Clínico 2a p...ACTUALIZACIÓN EN BIOQUÍMICA Control de Calidad en el Laboratorio Clínico 2a p...
ACTUALIZACIÓN EN BIOQUÍMICA Control de Calidad en el Laboratorio Clínico 2a p...
 
Gestion de Calidad - LEF Nemesio Carrillo Corral
Gestion de Calidad - LEF Nemesio Carrillo CorralGestion de Calidad - LEF Nemesio Carrillo Corral
Gestion de Calidad - LEF Nemesio Carrillo Corral
 
herramientas de la calidad estadisticas .pdf
herramientas de la calidad estadisticas .pdfherramientas de la calidad estadisticas .pdf
herramientas de la calidad estadisticas .pdf
 
Walter Shewhart_ Grupo 02.pdf
Walter Shewhart_ Grupo 02.pdfWalter Shewhart_ Grupo 02.pdf
Walter Shewhart_ Grupo 02.pdf
 
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
 
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
 
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
Herramientas de apoyo para la medición, análisis y mejora del sistema de gest...
 
Control de calidad - Administración de Empresas
Control de calidad - Administración de EmpresasControl de calidad - Administración de Empresas
Control de calidad - Administración de Empresas
 
Las_7_Herramientas_de_la_Calidad (4).pptx
Las_7_Herramientas_de_la_Calidad (4).pptxLas_7_Herramientas_de_la_Calidad (4).pptx
Las_7_Herramientas_de_la_Calidad (4).pptx
 
Gestion de-la-calidad
Gestion de-la-calidadGestion de-la-calidad
Gestion de-la-calidad
 
Diseño de experimentos
Diseño de experimentosDiseño de experimentos
Diseño de experimentos
 
Guia 1
Guia 1 Guia 1
Guia 1
 

Mehr von Juan Carlos Fernandez

Seis Sigma en la Pequena y Mediana Empresa
Seis Sigma en la Pequena y Mediana EmpresaSeis Sigma en la Pequena y Mediana Empresa
Seis Sigma en la Pequena y Mediana EmpresaJuan Carlos Fernandez
 
Programa de Entrenamiento en Calidad
Programa de Entrenamiento en CalidadPrograma de Entrenamiento en Calidad
Programa de Entrenamiento en CalidadJuan Carlos Fernandez
 
Mejora Continua en un Sistema de Gestión de la Calidad
Mejora Continua en un Sistema de Gestión de la CalidadMejora Continua en un Sistema de Gestión de la Calidad
Mejora Continua en un Sistema de Gestión de la CalidadJuan Carlos Fernandez
 
Mejora de la Calidad y la Productividad
Mejora de la Calidad y la ProductividadMejora de la Calidad y la Productividad
Mejora de la Calidad y la ProductividadJuan Carlos Fernandez
 
Fundamentos de Administración de Seis Sigma
Fundamentos de Administración de Seis SigmaFundamentos de Administración de Seis Sigma
Fundamentos de Administración de Seis SigmaJuan Carlos Fernandez
 

Mehr von Juan Carlos Fernandez (20)

Micro empresa Gestión con Calidad
Micro empresa Gestión con CalidadMicro empresa Gestión con Calidad
Micro empresa Gestión con Calidad
 
Seis Sigma en la Pequena y Mediana Empresa
Seis Sigma en la Pequena y Mediana EmpresaSeis Sigma en la Pequena y Mediana Empresa
Seis Sigma en la Pequena y Mediana Empresa
 
Programa de Entrenamiento en Calidad
Programa de Entrenamiento en CalidadPrograma de Entrenamiento en Calidad
Programa de Entrenamiento en Calidad
 
Filosofias de Calidad
Filosofias de CalidadFilosofias de Calidad
Filosofias de Calidad
 
Que es 6 Sigma
Que es 6 SigmaQue es 6 Sigma
Que es 6 Sigma
 
Sistema Poka Yoke
Sistema Poka YokeSistema Poka Yoke
Sistema Poka Yoke
 
Gerencia de la Calidad
Gerencia de la CalidadGerencia de la Calidad
Gerencia de la Calidad
 
Técnicas Japonesas de Calidad
Técnicas Japonesas de CalidadTécnicas Japonesas de Calidad
Técnicas Japonesas de Calidad
 
Innovación hacia la Calidad
Innovación hacia la CalidadInnovación hacia la Calidad
Innovación hacia la Calidad
 
Mejora Continua en un Sistema de Gestión de la Calidad
Mejora Continua en un Sistema de Gestión de la CalidadMejora Continua en un Sistema de Gestión de la Calidad
Mejora Continua en un Sistema de Gestión de la Calidad
 
Mejora de la Calidad y la Productividad
Mejora de la Calidad y la ProductividadMejora de la Calidad y la Productividad
Mejora de la Calidad y la Productividad
 
Fundamentos de Administración de Seis Sigma
Fundamentos de Administración de Seis SigmaFundamentos de Administración de Seis Sigma
Fundamentos de Administración de Seis Sigma
 
ISO 14000 Para las PyMES
ISO 14000 Para las PyMESISO 14000 Para las PyMES
ISO 14000 Para las PyMES
 
Gerencia de Calidad
Gerencia de CalidadGerencia de Calidad
Gerencia de Calidad
 
Implementación de ISO 9000
Implementación de ISO 9000Implementación de ISO 9000
Implementación de ISO 9000
 
ISO 9000 Versión 2000
ISO 9000 Versión 2000ISO 9000 Versión 2000
ISO 9000 Versión 2000
 
Estrategias de Calidad Total
Estrategias de Calidad TotalEstrategias de Calidad Total
Estrategias de Calidad Total
 
Normas ISO
Normas ISONormas ISO
Normas ISO
 
Normas ISO Conceptos Generales
Normas ISO Conceptos GeneralesNormas ISO Conceptos Generales
Normas ISO Conceptos Generales
 
Normas ISO 9000 Versión 2000
Normas ISO 9000 Versión 2000Normas ISO 9000 Versión 2000
Normas ISO 9000 Versión 2000
 

Kürzlich hochgeladen

TEMA 2 PROTOCOLO DE EXTRACCION VEHICULAR.ppt
TEMA 2 PROTOCOLO DE EXTRACCION VEHICULAR.pptTEMA 2 PROTOCOLO DE EXTRACCION VEHICULAR.ppt
TEMA 2 PROTOCOLO DE EXTRACCION VEHICULAR.pptJavierHerrera662252
 
El uso de las tic en la vida ,lo importante que son
El uso de las tic en la vida ,lo importante  que sonEl uso de las tic en la vida ,lo importante  que son
El uso de las tic en la vida ,lo importante que son241514984
 
Crear un recurso multimedia. Maricela_Ponce_DomingoM1S3AI6-1.pptx
Crear un recurso multimedia. Maricela_Ponce_DomingoM1S3AI6-1.pptxCrear un recurso multimedia. Maricela_Ponce_DomingoM1S3AI6-1.pptx
Crear un recurso multimedia. Maricela_Ponce_DomingoM1S3AI6-1.pptxNombre Apellidos
 
Mapa-conceptual-del-Origen-del-Universo-3.pptx
Mapa-conceptual-del-Origen-del-Universo-3.pptxMapa-conceptual-del-Origen-del-Universo-3.pptx
Mapa-conceptual-del-Origen-del-Universo-3.pptxMidwarHenryLOZAFLORE
 
AREA TECNOLOGIA E INFORMATICA TRABAJO EN EQUIPO
AREA TECNOLOGIA E INFORMATICA TRABAJO EN EQUIPOAREA TECNOLOGIA E INFORMATICA TRABAJO EN EQUIPO
AREA TECNOLOGIA E INFORMATICA TRABAJO EN EQUIPOnarvaezisabella21
 
Los Microcontroladores PIC, Aplicaciones
Los Microcontroladores PIC, AplicacionesLos Microcontroladores PIC, Aplicaciones
Los Microcontroladores PIC, AplicacionesEdomar AR
 
Actividad integradora 6 CREAR UN RECURSO MULTIMEDIA
Actividad integradora 6    CREAR UN RECURSO MULTIMEDIAActividad integradora 6    CREAR UN RECURSO MULTIMEDIA
Actividad integradora 6 CREAR UN RECURSO MULTIMEDIA241531640
 
El_Blog_como_herramienta_de_publicacion_y_consulta_de_investigacion.pptx
El_Blog_como_herramienta_de_publicacion_y_consulta_de_investigacion.pptxEl_Blog_como_herramienta_de_publicacion_y_consulta_de_investigacion.pptx
El_Blog_como_herramienta_de_publicacion_y_consulta_de_investigacion.pptxAlexander López
 
Tecnologias Starlink para el mundo tec.pptx
Tecnologias Starlink para el mundo tec.pptxTecnologias Starlink para el mundo tec.pptx
Tecnologias Starlink para el mundo tec.pptxGESTECPERUSAC
 
tics en la vida cotidiana prepa en linea modulo 1.pptx
tics en la vida cotidiana prepa en linea modulo 1.pptxtics en la vida cotidiana prepa en linea modulo 1.pptx
tics en la vida cotidiana prepa en linea modulo 1.pptxazmysanros90
 
Presentación sobre la Inteligencia Artificial
Presentación sobre la Inteligencia ArtificialPresentación sobre la Inteligencia Artificial
Presentación sobre la Inteligencia Artificialcynserafini89
 
Red Dorsal Nacional de Fibra Óptica y Redes Regionales del Perú
Red Dorsal Nacional de Fibra Óptica y Redes Regionales del PerúRed Dorsal Nacional de Fibra Óptica y Redes Regionales del Perú
Red Dorsal Nacional de Fibra Óptica y Redes Regionales del PerúCEFERINO DELGADO FLORES
 
La Electricidad Y La Electrónica Trabajo Tecnología.pdf
La Electricidad Y La Electrónica Trabajo Tecnología.pdfLa Electricidad Y La Electrónica Trabajo Tecnología.pdf
La Electricidad Y La Electrónica Trabajo Tecnología.pdfjeondanny1997
 
Trabajo de tecnología excel avanzado.pdf
Trabajo de tecnología excel avanzado.pdfTrabajo de tecnología excel avanzado.pdf
Trabajo de tecnología excel avanzado.pdfedepmariaperez
 
El uso de las TIC's en la vida cotidiana.
El uso de las TIC's en la vida cotidiana.El uso de las TIC's en la vida cotidiana.
El uso de las TIC's en la vida cotidiana.241514949
 
LUXOMETRO EN SALUD OCUPACIONAL(FINAL).ppt
LUXOMETRO EN SALUD OCUPACIONAL(FINAL).pptLUXOMETRO EN SALUD OCUPACIONAL(FINAL).ppt
LUXOMETRO EN SALUD OCUPACIONAL(FINAL).pptchaverriemily794
 
GonzalezGonzalez_Karina_M1S3AI6... .pptx
GonzalezGonzalez_Karina_M1S3AI6... .pptxGonzalezGonzalez_Karina_M1S3AI6... .pptx
GonzalezGonzalez_Karina_M1S3AI6... .pptx241523733
 
Modelo de Presentacion Feria Robotica Educativa 2024 - Versión3.pptx
Modelo de Presentacion Feria Robotica Educativa 2024 - Versión3.pptxModelo de Presentacion Feria Robotica Educativa 2024 - Versión3.pptx
Modelo de Presentacion Feria Robotica Educativa 2024 - Versión3.pptxtjcesar1
 
tarea de exposicion de senati zzzzzzzzzz
tarea de exposicion de senati zzzzzzzzzztarea de exposicion de senati zzzzzzzzzz
tarea de exposicion de senati zzzzzzzzzzAlexandergo5
 
Presentación inteligencia artificial en la actualidad
Presentación inteligencia artificial en la actualidadPresentación inteligencia artificial en la actualidad
Presentación inteligencia artificial en la actualidadMiguelAngelVillanuev48
 

Kürzlich hochgeladen (20)

TEMA 2 PROTOCOLO DE EXTRACCION VEHICULAR.ppt
TEMA 2 PROTOCOLO DE EXTRACCION VEHICULAR.pptTEMA 2 PROTOCOLO DE EXTRACCION VEHICULAR.ppt
TEMA 2 PROTOCOLO DE EXTRACCION VEHICULAR.ppt
 
El uso de las tic en la vida ,lo importante que son
El uso de las tic en la vida ,lo importante  que sonEl uso de las tic en la vida ,lo importante  que son
El uso de las tic en la vida ,lo importante que son
 
Crear un recurso multimedia. Maricela_Ponce_DomingoM1S3AI6-1.pptx
Crear un recurso multimedia. Maricela_Ponce_DomingoM1S3AI6-1.pptxCrear un recurso multimedia. Maricela_Ponce_DomingoM1S3AI6-1.pptx
Crear un recurso multimedia. Maricela_Ponce_DomingoM1S3AI6-1.pptx
 
Mapa-conceptual-del-Origen-del-Universo-3.pptx
Mapa-conceptual-del-Origen-del-Universo-3.pptxMapa-conceptual-del-Origen-del-Universo-3.pptx
Mapa-conceptual-del-Origen-del-Universo-3.pptx
 
AREA TECNOLOGIA E INFORMATICA TRABAJO EN EQUIPO
AREA TECNOLOGIA E INFORMATICA TRABAJO EN EQUIPOAREA TECNOLOGIA E INFORMATICA TRABAJO EN EQUIPO
AREA TECNOLOGIA E INFORMATICA TRABAJO EN EQUIPO
 
Los Microcontroladores PIC, Aplicaciones
Los Microcontroladores PIC, AplicacionesLos Microcontroladores PIC, Aplicaciones
Los Microcontroladores PIC, Aplicaciones
 
Actividad integradora 6 CREAR UN RECURSO MULTIMEDIA
Actividad integradora 6    CREAR UN RECURSO MULTIMEDIAActividad integradora 6    CREAR UN RECURSO MULTIMEDIA
Actividad integradora 6 CREAR UN RECURSO MULTIMEDIA
 
El_Blog_como_herramienta_de_publicacion_y_consulta_de_investigacion.pptx
El_Blog_como_herramienta_de_publicacion_y_consulta_de_investigacion.pptxEl_Blog_como_herramienta_de_publicacion_y_consulta_de_investigacion.pptx
El_Blog_como_herramienta_de_publicacion_y_consulta_de_investigacion.pptx
 
Tecnologias Starlink para el mundo tec.pptx
Tecnologias Starlink para el mundo tec.pptxTecnologias Starlink para el mundo tec.pptx
Tecnologias Starlink para el mundo tec.pptx
 
tics en la vida cotidiana prepa en linea modulo 1.pptx
tics en la vida cotidiana prepa en linea modulo 1.pptxtics en la vida cotidiana prepa en linea modulo 1.pptx
tics en la vida cotidiana prepa en linea modulo 1.pptx
 
Presentación sobre la Inteligencia Artificial
Presentación sobre la Inteligencia ArtificialPresentación sobre la Inteligencia Artificial
Presentación sobre la Inteligencia Artificial
 
Red Dorsal Nacional de Fibra Óptica y Redes Regionales del Perú
Red Dorsal Nacional de Fibra Óptica y Redes Regionales del PerúRed Dorsal Nacional de Fibra Óptica y Redes Regionales del Perú
Red Dorsal Nacional de Fibra Óptica y Redes Regionales del Perú
 
La Electricidad Y La Electrónica Trabajo Tecnología.pdf
La Electricidad Y La Electrónica Trabajo Tecnología.pdfLa Electricidad Y La Electrónica Trabajo Tecnología.pdf
La Electricidad Y La Electrónica Trabajo Tecnología.pdf
 
Trabajo de tecnología excel avanzado.pdf
Trabajo de tecnología excel avanzado.pdfTrabajo de tecnología excel avanzado.pdf
Trabajo de tecnología excel avanzado.pdf
 
El uso de las TIC's en la vida cotidiana.
El uso de las TIC's en la vida cotidiana.El uso de las TIC's en la vida cotidiana.
El uso de las TIC's en la vida cotidiana.
 
LUXOMETRO EN SALUD OCUPACIONAL(FINAL).ppt
LUXOMETRO EN SALUD OCUPACIONAL(FINAL).pptLUXOMETRO EN SALUD OCUPACIONAL(FINAL).ppt
LUXOMETRO EN SALUD OCUPACIONAL(FINAL).ppt
 
GonzalezGonzalez_Karina_M1S3AI6... .pptx
GonzalezGonzalez_Karina_M1S3AI6... .pptxGonzalezGonzalez_Karina_M1S3AI6... .pptx
GonzalezGonzalez_Karina_M1S3AI6... .pptx
 
Modelo de Presentacion Feria Robotica Educativa 2024 - Versión3.pptx
Modelo de Presentacion Feria Robotica Educativa 2024 - Versión3.pptxModelo de Presentacion Feria Robotica Educativa 2024 - Versión3.pptx
Modelo de Presentacion Feria Robotica Educativa 2024 - Versión3.pptx
 
tarea de exposicion de senati zzzzzzzzzz
tarea de exposicion de senati zzzzzzzzzztarea de exposicion de senati zzzzzzzzzz
tarea de exposicion de senati zzzzzzzzzz
 
Presentación inteligencia artificial en la actualidad
Presentación inteligencia artificial en la actualidadPresentación inteligencia artificial en la actualidad
Presentación inteligencia artificial en la actualidad
 

Curso Control Estadístico del Proceso

  • 1. P. Reyes CONTROL ESTADÍSTICO DEL PROCESO Dr. Primitivo Reyes A.
  • 2.
  • 3.
  • 4. P. Reyes 1. Importancia de la mejora continua
  • 5.
  • 6.
  • 7.
  • 8.
  • 9.
  • 10.
  • 11.
  • 12.
  • 13. P. Reyes 1... Inspecciones de calidad Inspección 100% Auditoría Proc. Control Estadístico del Proceso CEP En la Fuente Separa “buenos” de “malos” Ni asegura Ni mejora Investigación de Causas Convive con los defectos Ayuda a estabilizar el proceso Mejora pero no evita los def. EVITA EL ERROR IMPIDE DEFECTOS
  • 14.
  • 15.
  • 16.
  • 17.
  • 18. 1. Manual de Calidad 2. Procedimientos 3. Instructivos Formatos Vacios Formatos Llenos 4. Formatos y Registros Documentos controlados Política Registros de calidad 1.. E l S istema de C alidad El Sistema de Calidad se debe Establecer, Documentar e Implantar en forma Efectiva: QS 9000 ISO 9000:2000 Implantación de la política El “Cómo” de los procedimientos Planes de Calidad
  • 19.
  • 20.
  • 21.
  • 22. P. Reyes 2. Métodos y filosofía del control estadístico de proceso (CEP)
  • 23. No existen en la naturaleza dos cosas exactamente iguales, ni siquiera los gemelos , por tanto la variación es inevitable y es analizada por la Estadística P. Reyes 2 . Métodos y filosofía del CEP
  • 24. P. Reyes “ La estadística nos proporciona métodos para organizar y resumir información, usándola para obtener diversas conclusiones” Por ejemplo, sí deseamos saber el promedio de peso de las personas en una población tenemos dos opciones: Pesar a todas y cada una de las personas, anotar y organizar los datos, y calcular la media. Pesar solo una porción o subconjunto de la población (muestra). Registrar y organizar los datos y calcular la media de la muestra, tomándola para pronosticar o Inferir la media de toda la población. 2 .. . La Estadística
  • 25. P. Reyes 2 ..Definiciones Población: Es la colección de todos los elementos (piezas, personas, etc.). En nuestro caso sería un número infinito de mediciones de las características bajo estudio . Muestra: Es una parte o subconjunto representativo de la población, o sea un grupo de mediciones de las características . Variable aleatoria: es una función o regla que asigna uno y sólo un valor de una variable &quot; y&quot; a cada evento en el espacio muestral. En este caso representa una medición particular. Distribución : Es la forma del patrón de variación observado. .
  • 26. P. Reyes 2 ..Definiciones Estadístico: Es una medición tomada en una muestra que sirve para hacer inferencias en relación con una población (media de la muestra, desviación estándar de la muestra). Normalmente es una variable aleatoria y tiene asociada una distribución. Parámetro: Es el valor verdadero en una población (media, desviación estándar, se indican con letras griegas) Datos continuos Los datos que tienen un valor real (temperatura, presión, tiempo, diámetro, altura ) Datos discretos: Datos que toman valores enteros (1, 2, 3, etc.) Datos por atributos: Bueno - malo, pasa - no pasa, etc.
  • 27. P. Reyes 2 ..Histograma El Histograma es una gr áfica de las frecuencias que presenta los diferentes valores de medición y su frecuencia. Una tabla de frecuencias lista los valores y su frecuencia: VALOR FREC. VALOR FREC. 35 1 41 7 36 2 42 6 37 3 43 4 38 6 44 2 39 8 45 1 40 10
  • 28. P. Reyes 2 . . .Histograma de Frecuencia En un proceso estable las mediciones se distribuyen normalmente, a la derecha y a la izquierda de la media adoptando la forma de una campana. TAMAÑO TAMAÑO TAMAÑO TAMAÑO TAMAÑO M E D I C I O N E S Media M E D I C I O N E S
  • 29.
  • 30. P. Reyes 2 ..Las distribuciones pueden variar en: POSICIÓN AMPLITUD FORMA … O TENER CUALQUIER COMBINACION
  • 31. P. Reyes Media - Promedio numérico o centro de gravedad del histograma de mediciones 2. ..Medidas de Tendencia central - Usa todos los datos - Le afectan los extremos X  Fi  i i  1 Donde, Fi = Frecuencia de cada medición x i = Valor de cada medición individual Mediana - Es el valor que se encuentra en medio de los datos o mediciones Moda - Es el valor que más se repite Fi*Xi n 
  • 32.
  • 33. P. Reyes 2 . . .Medidas de variabilidad o Dispersión – Desviación Estándar S es usada cuando los datos corresponden a una muestra de la población. Como es el caso de una muestra de mediciones.  típicamente es usada si se está considerando a toda la población  (Fi*X i 2 )- [  (Fi*Xi)] 2 /n i=1 n n - 1 s =  (x i - x) 2 i=1 n n  =
  • 34.
  • 35.
  • 36.
  • 37.
  • 38. P. Reyes 2 ...Ejercicio de Histogramas Datos: 6.40 6.39 6.41 6.39 6.40 6.39 6.40 6.37 6.40 6.38 6.42 6.38 6.40 6.38 6.41 6.40 6.41 6.41 6.43 6.39 6.41 6.35 6.39 6.41 6.43 6.38 6.40 6.42 6.37 6.40 6.37 6.43 6.43 6.39 6.42 6.40 6.42 6.39 6.42 6.38 6.42 6.40 6.38 6.45 6.41 6.39 6.44 6.36 6.44 6.36
  • 39. P. Reyes 2... Histogramas con Datos agrupados El Histograma es una gráfica de las frecuencias que presenta los diferentes datos o valores de mediciones agrupados en celdas y su frecuencia. Una tabla de frecuencias lista las categorías o clases de valores con sus frecuencias correspondientes, por ejemplo: CLASE FRECUENCIA 1-5 7 6-10 12 11-15 19 16-20 16 21-25 8 26-30 4
  • 40. P. Reyes 2... Definiciones - datos agrupados Límite inferior y superior de clase Son los numeros más pequeños y más grandes respectivamente que pertenecen a las clases (del ejemplo, 1 y 5; 6 y 10; 11 y 15; 16 y 20; 21 y 25; 26 y 30) Marcas de clase Son los puntos medios de las clases (del ejemplo 3, 8, 13, 18, 23 y 28) Fronteras de clase Se obtienen al incrementar los límites superiores de clase y al decrementar los inferiores en una cantidad igual a la media de la diferencia entre un límite superior de clase y el siguiente límite inferior de clase (en el ejemplo, las fronteras de clase son 0.5, 5.5, 10.5, 15.5, 20.5, 25.5 y 30.5) Ancho de clase Es la diferencia entre dos límites de clase inferiores consecutivas(en el ejemplo, es 5).
  • 41. P. Reyes Construcción del histograma - datos agrupados Paso 1. Contar los datos (N) Paso 2. Calcular el rango de los datos R = (Valor mayor- valor menor) Paso 3. Seleccionar el número de columnas o celdas del histograma (K). Como referencia si N = 1 a 50, K = 5 a 7; si N = 51 - 100; K = 6 - 10. También se utiliza el criterio K = Raíz (N) Paso 4. Dividir el rango por K para obtener el ancho de clase Paso 5. Identificar el límite inferior de clase más conveniente y sumarle el ancho de clase para formar todas las celdas necesarias Paso 6. Tabular los datos dentro de las celdas de clase Paso 7. Graficar el histograma y observar si tiene una forma normal
  • 42. P. Reyes Ejemplo : Datos agrupados Datos: 19 21 25 33 30 27 31 25 35 37 44 43 42 39 43 40 38 37 36 42 41 44 32 45 46 47 45 54 52 50 48 49 47 48 49 47 52 51 50 49 58 59 61 62 63 59 61 66 76 70
  • 43. P. Reyes 2... Construcción del histograma Paso 1. Número de datos N = 50 Paso 2. Rango R = 76 - 16 = 60 Paso 3. Número de celdas K = 6; Paso 4. Ancho de clase = 60 / 6 = 10 Paso 5. Lím. de clase: 15-24, 25- 34, 35- 44, 45- 54, 55 - 64, 65-74, 75-94 Paso 6. Número de datos: 2 7 14 17 7 2 1 Marcas de clase 19.5 29.5 39.5 49.5 59.5 69.5 79.5 Paso 7. Graficar el histograma y observar si tiene una forma normal
  • 44. P. Reyes 2... Construcción del histograma
  • 45. P. Reyes Media - Promedio numérico o centro de gravedad del histograma 2...Cálculo de la media - datos agrupados - Usa todos los datos - Le afectan los extremos x  Fi  i i  1 Donde, Fi = Frecuencia de cada observación x i = Valor de cada marca de clase Mediana - Es el valor que se encuentra en medio de los datos Moda - Es el valor que más se repite Fi*Xi n 
  • 46. P. Reyes 2... Desviación Estándar - Datos agrupados S es usada cuando los datos corresponden a una muestra de la población Nota: Cada Xi representa la marca de clase  típicamente es usada si se está considerando a toda la población NOTA: Para lo cálculos con Excel, se puede utilizar el mismo método que para datos no agrupados de la página 13, tomando como Xi los valores de las marcas de clase.  (Fi*X i 2 )- [  (Fi*Xi)] 2 /n i=1 n n - 1 s =  (x i - x) 2 i=1 n n  =
  • 47.
  • 48.
  • 50. P. Reyes Ejercicio Datos: 19.5 21.3 21.3 21.3 21.3 21.2 21.4 21.4 21.4 19.6 21.3 21.4 21.3 21.3 20.9 19.5 21.3 21.5 19.6 21.4 21.5 19.8 21.0 20.6 21.5 19.7 21.3 21.3 21.3 19.7 19.8 21.4 21.4 19.9 21.3 19.8 21.6 20.4 21.4 21.4 21.4 21.4 19.6 21.5 21.2 21.4 21.5 21.4 21.5 21.4 19.8 19.8 21.2 21.3 19.4 21.4 21.4 21.3 21.3 19.7 20.1 19.9 21.3 19.5 21.3 21.2 21.4 21.6 21.4 19.8 21.3 19.4 19.8 21.3 21.2 21.4 21.6 21.4 19.8 21.3 19..4 21.3 21.2 21.3 21.6 21.4 21.5 20.2 19.4 21.1 21.3 20.2 21.4 19.7 21.4 20.1 21.3 21.4 21.5 19.5
  • 51. 2 ...La Distribución Normal P. Reyes
  • 52. P. Reyes 2 ...La distribución Normal La distribución normal es una distribución de probabilidad que tiene media 0 y desviación estándar de 1. El área bajo la curva o la probabilidad desde menos infinito a más infinito vale 1. La distribución normal es simétrica, es decir cada mitad de curva tiene un área de 0.5. La escala horizontal de la curva se mide en desviaciones estándar, su número se describe con Z. Para cada valor Z se asigna una probablidad o área bajo la curva mostrada en la Tabla de distribución normal
  • 53. P. Reyes X Para la población - se incluyen TODOS los datos Para la muestra 2 ...La distribución Normal x x+s x+2s x+3s x-s x-2s x-3s       
  • 54. P. Reyes La desviación estándar sigma representa la distancia de la media al punto de inflexión de la curva normal 2 ...La distribución Normal Estándar z 0 1 2 3 -1 -2 -3 x x+  x+2  x+  3 x-  x-2  x-3  X
  • 55. P. Reyes 68% 34% 34% 95% 99.73% + 1s + 2s + 3s 2 . . .Características de la distribución normal
  • 56. P. Reyes 2 ...El valor de z Determina el número de desviaciones estándar entre algún valor x y la media de la población ,  . Donde  es la desviación estándar de la población . En Excel usar Fx, STATISTICAL, STANDARDIZE, para calcular el valor de Z z = x -  
  • 57. P. Reyes 68% 34% 34% 13.5% 13.5% 95% 68% 34% 34% 13.5% 13.5% 99.73% 68% 34% 34% 2.356% 2.356% 2. ..Proceso con media =100 y desviación estándar = 10 70 80 90 100 110 120 130 90 110 80 120 70 130
  • 58. P. Reyes _ X xi s Z LIE Especificación inferior LSE Especificación superior p = porcentaje de partes fuera de Especificaciones
  • 59. 2. ..Áreas bajo la curva normal P. Reyes
  • 60.
  • 61.
  • 62.
  • 63. P. Reyes ¿ Que porcentaje de las baterías se espera que duren 80 horas o menos? z = (x-m) /s z = (80-85.36)/(3.77)= - 5.36/ 3.77 = -1.42 2. ..Área bajo la curva normal 85.36 80 -1.42 0
  • 64. P. Reyes 86 87 85.36 ¿Cuál es la probabilidad de que una batería dure entre 86.0 y 87.0 horas? 2. ..Área bajo la curva normal 0 1
  • 65. P. Reyes ¿ Cuál es la probabilidad de que una batería dure más de 87 horas? 1.67 = .33 ó 33% de las veces una batería durará más de 87 horas 2. ..Área bajo la curva normal 85.36 87
  • 66. P. Reyes Conside re una media de peso de estudiantes de 75 Kgs . con una desviación estándar de 10Kgs . Contestar lo siguiente : 1. ¿Cuál es la probabilidad de que un estudiante pese más de 85Kgs. ? 2. ¿Cuál es la probabilidad de que un estudiante pese menos de 50Kgs. ? 3. ¿Cuál es la probabilidad de que pese entre 60 y 80 Kgs. ?. 4. ¿Cuál es la probabilidad de que pese entre 55 y 70 Kgs. ? 5. ¿Cuál es la probabilidad de que pese entre 85 y 100Kgs .? 2. ..Ejercicios
  • 67.
  • 68.
  • 69.
  • 70.
  • 71.
  • 72.
  • 73.
  • 74.
  • 75.
  • 76.
  • 77.
  • 78.
  • 79.
  • 80.
  • 81.
  • 82. P. Reyes 3. Cartas de control por variables
  • 83. P. Reyes 1. El teorema del límite central 2. Teoría de las Cartas de Control 3. Cartas de control para variables 4. Ejercicios de aplicación 3. CONTENIDO
  • 84. P. Reyes 3.1 Teorema del Límite Central
  • 85.
  • 86.
  • 87.
  • 88.
  • 89.
  • 90. P. Reyes 3.2 Teoría de las Cartas de Control
  • 91.
  • 92.
  • 93.
  • 94.
  • 95.
  • 96. 3.2 Variación – Causas comunes P. Reyes Límite inf. de especs. Límite sup. de especs. Objetivo 15
  • 97.
  • 98. 3.2 Variación – Causas especiales P. Reyes Límite inf. de especs. Límite sup. de especs. Objetivo 17
  • 99.
  • 100. P. Reyes Corridas 7 puntos consecutivos de un lado de X-media. Puntos fuera de control 1 punto fuera de los límites de control a 3 sigmas en cualquier dirección (arriba o abajo). Tendencia ascendente o descendente 7 puntos consecutivos aumentando o disminuyendo. Adhesión a la media 15 puntos consecutivos dentro de la banda de 1 sigma del centro . Otros 2 de 3 puntos fuera de los límites a dos sigma 3.2 Patrones Fuera de Control
  • 101. P. Reyes Proceso en Control estadístico Sucede cuando no se tienen situaciones anormales y aproximadamente el 68% (dos tercios) de los puntos de la carta se encuentran dentro del  1  de las medias en la carta de control. Lo anterior equivale a tener el 68% de los puntos dentro del tercio medio de la carta de control. 3.2 Patrón de Carta en Control Estadístico
  • 102.
  • 103.
  • 104. P. Reyes 3.3 Construcción de Cartas de Control para variables
  • 105.
  • 106.
  • 107. P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) Terminología k = número de subgrupos; n = número de muestras en cada subgrupo X = promedio para un subgrupo X = promedio de todos los promedios de los subgrupos R = rango de un subgrupo R = promedio de todos los rangos de los subgrupos x = x 1 + x 2 + x 3 + ...+ x N k = x 1 + x 2 + x 3 + ...+ x N n LIC X = x - A 2 R LIC R = D 3 R LSC X = x + A 2 R LSC R = D 4 R NOTA: Para el cálculo de los límites de control usar los factores mostrados en las tablas correspondientes a cada valor de n estos factores para calcular Límites de Control) x
  • 108.
  • 109. P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) Ejemplo 1: Psi en un componente. Se toman muestras de Cinco componentes cada día. n = # muestras en un subgrupo/día = 5 k = # de subgrupos (días) = 10 X = 74.6 R = 36.0
  • 110. P. Reyes Ejemplo 1: 3.3.Carta X, R (en Excel) 1 0 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 1 0 0 9 0 8 0 7 0 6 0 5 0 S u b g r o u p Medias X = 7 4 . 6 0 3 . 0 S L = 9 5 . 3 6 - 3 . 0 S L = 5 3 . 8 4 8 0 7 0 6 0 5 0 4 0 3 0 2 0 1 0 0 Rangos R = 3 6 . 0 0 3 . 0 S L = 7 6 . 1 2 - 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0 Gráfica Xbar/R para Muestra1-Muestra5 ¿Cuál gráfica se analiza primero? ¿Cuál es su conclusión acerca del proceso ?
  • 111. P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) Ejemplo 2: Peso de partes medido diariamente, 5 muestras por día. n = # muestras en un subgrupo (día) = 5 k = # de subgrupos (días) = 10 X = 77.2 R = 18
  • 112.
  • 113. P. Reyes 3.3..Hacer una carta X-R y concluir: MUESTRA VALORES 1 12 12 13 15 12 2 15 17 16 17 18 3 13 18 14 14 15 4 10 12 11 10 11 5 13 16 15 16 15 6 15 12 13 15 11 7 15 16 15 16 15 8 15 17 15 17 14 9 22 17 16 17 14 10 16 15 17 15 18 11 16 18 16 16 16 12 15 16 17 17 14 13 17 15 16 15 16 14 16 15 18 18 16 15 17 19 17 15 17 16 19 17 15 15 17 17 16 19 16 15 14 18 16 15 17 16 18 19 17 13 17 15 14 20 19 18 17 15 16
  • 114.
  • 115. P. Reyes 3.3.Carta X, S (Continuación) Terminología k = número de subgrupos n = número de muestras en cada subgrupo x = promedio para un subgrupo x = promedio de todos los promedios de los subgrupos S = Desviación estándar de un subgrupo S = Desviación est. promedio de todos los subgrupos x = x 1 + x 2 + x 3 + ...+ x N k = x 1 + x 2 + x 3 + ...+ x N n LIC X = x - A 3 S LICs = B 3 S LSC X = x + A 3 S LSC S = B 4 S (usar estos factores para calcular Límites de Control n 5 6 7 8 9 10 B 4 2.09 1.97 1.88 1.82 1.76 1.72 B 3 0.00 0.03 0.12 0.18 0.24 0.28 A 3 1.43 1.29 1.18 1.10 1.03 0.98 C 4 .940 .952 .959 .965 .969 .973 x
  • 116.
  • 117. P. Reyes 3.3.Carta X, R (Continuación) Terminología k = número de piezas n = 2 para calcular los rangos x = promedio de los datos R = rango de un subgrupo de dos piezas consecutivas R = promedio de los (n - 1) rangos = x 1 + x 2 + x 3 + ...+ x N n LIC X = x - E 2 R LIC R = D 3 R LSC X = x + E 2 R LSC R = D 4 R (usar estos factores para calcular Límites de Control n = 2) n 2 D 4 3.27 D 3 0 E 2 2.66 x
  • 118. P. Reyes 3.3. Ejemplo: Carta I (en Excel) 1 5 1 0 5 0 1 2 . 3 5 1 2 . 2 5 1 2 . 1 5 1 2 . 0 5 1 1 . 9 5 1 1 . 8 5 1 1 . 7 5 1 1 . 6 5 Número de Observación Valor Individual Carta I para Longitud de parte 1 6 6 6 8 X = 1 2 . 0 3 3 . 0 S L = 1 2 . 3 0 - 3 . 0 S L = 1 1 . 7 5 Observar la situación fuera de control
  • 119.
  • 120. P. Reyes 4. Cartas de Control para atributos
  • 121. 4. Cartas de control para atributos P. Reyes Datos de Atributos Tipo Medición ¿ Tamaño de Muestra ? p Fracción de partes defectuosas, Constante o variable > 30 defectivas o no conformes np Número de partes defectuosas Constante > 30 c Número de defectos Constante = 1 Unidad de inspección u Número de defectos por unidad Constante o variable en unidades de inspección
  • 122.
  • 123.
  • 124. P. Reyes 4. Carta p (Atributos) pi = = np # de productos defectivos en cada muestra ni # de productos inspeccionados en la muestra Cálculo de los límites de control = n 1 p 1 + n 2 p 2 + n 3 p 3 + ...+ n k p k n 1 + n 2 + n 3 + ... + n k LSC = LIC = Nota: Recalcular los límites en cada muestra (ni) si n es variable Fracción defectiva promedio p (1- ) p p n p + 3 (1- ) p p n p - 3
  • 125. P. Reyes 4. Carta p (Cont...) Ejemplo: Algunos componentes no pasaron la inspección final. Los datos de falla se registraron semanalmente tal como se muestra a continuación. n np p K = 13 semanas
  • 126.
  • 127.
  • 128. P. Reyes 4...Carta np (Atributos) np = # de productos defectuosos en una muestra n = tamaño de la muestra k = Número de muestras o subgrupos p = Suma de productos defectuosos / Total inspeccionado [n * k] Cálculo de los límites de control np = n p 1 + np 2 + n p 3 + ...+ np k k np + 3 LSC = LIC = np (1-p) np - 3 np (1-p)
  • 129. P. Reyes 4...Carta np (Cont..) n np K=15 lotes Ejemplo 1: en un proceso se inspeccionan K = 15 lotes tomando n = 4000 partes de cada lote, se rechazan algunas partes por tener defectos, como sigue:
  • 130.
  • 131.
  • 132. P. Reyes 4... Carta c (Atributos) Cálculo de los límites de control c 1 + c 2 + c 3 + ...+ c k k LSC = LIC = c = c + 3 c - 3 c c
  • 133.
  • 134.
  • 135.
  • 136. P. Reyes 4... Carta u (cont...) Terminología n = tamaño de cada muestra en unidades de inspección (por ejemplo, producción semanal) c = Número de defectos encontrados en cada muestra de unidades de inspección u = defectos por unidad (DPU) k = número de muestras c = # de defectos en una muestra de n unidades de inspección n = Número de unidades de inspección en cada muestra u = c / n = DPU = Número de defectos por unidad
  • 137. P. Reyes 4... Carta u (cont...) Cálculo de los límites de control c 1 + c 2 + c 3 + ...+ c k n 1 + n 2 + n 3 + ...+ n k LSC = LIC = Nota: Recalcular los límites en cada tamaño de muestra (ni) Se puede tomar n promedio o estandarizar para tener Límites de control constantes Número de defectos por Unidad promedio Ui = Ci / ni Defectos por unidad para cada muestra u + 3 u - 3 u = u ni u ni
  • 138. P. Reyes 4... Carta u (cont..) Ejemplo 1: Un proceso de soldadura suelda 50 PCBs por semana Los defectos visuales observados se registran cada semana. n c u k=12 semanas
  • 139.
  • 140. P. Reyes 4... Carta u (cont...) Ejemplo 2: Defectos encontrado al inspeccionar varios lotes de productos registrados por semana Lote n c = Defectos u = DPU k=20 semanas
  • 141.
  • 142. P. Reyes 5. Cartas de control especiales
  • 143.
  • 144.
  • 145.
  • 146.
  • 147.
  • 148. P. Reyes Cartas especiales de control
  • 149.
  • 150. Cartas de sumas acumuladas CuSum P. Reyes
  • 151.
  • 152.
  • 153.
  • 154.
  • 155. Ejemplo de carta Cusum con Máscara en V P. Reyes 1- 4.925 2- 4.675 3- 4.725 4- 4.350 5- 5.350 6- 5.225 7- 4.770 8- 4.525 9- 5.225 10- 4.600 11- 4.625 12- 5.150 13- 5.325 14- 4.945 15- 5.025 16- 5.223 Target = 5, sigma = 1, h = 2, k =0.5, Vmask
  • 156. Continuación de ejemplo – con máscara en V P. Reyes 17. 5.463 18. 5.875 19. 6.237 20. 6.841 Agregando 4 Puntos adicionales Se observa que se Salen los puntos 16, 17 y 18 Requiriendo acción Target = 5, sigma = 1, h = 2, k =0.5, Vmask
  • 157. Carta CuSum– Sólo un Límite inferior o superior P. Reyes C I i = val or del nivel bajo de la Cusum de un lado inferior en tiempo i C S i = val or del nivel alto de la Cusum de un lado superior en tiempo i Dat os graficados = C I i, C S i Línea central = 0
  • 158. Cata CuSum – sólo un Límite superior o inferior P. Reyes 1- 4.925 2- 4.675 3- 4.725 4- 4.350 5- 5.350 6- 5.225 7- 4.770 8- 4.525 9- 5.225 10- 4.600 11- 4.625 12- 5.150 13- 5.325 14- 4.945 15- 5.025 16- 5.223 17. 5.463 18. 5.875 19. 6.237 20. 6.841 Target = 5, sigma = 1, h = 2, k =0.5, One Sided FIR = 1 sigma, Reset after each signal
  • 159.
  • 160. Carta CuSum – Forma tabular para un solo límite inf. ó sup. P. Reyes En este caso el Valor de H es 5 H Máscara en V Periodo Xi Xi-10.5 Sh(i) Nh 1 9.45 -1.05 0 0 2 7.99 -2.51 0 0 3 9.29 -1.21 0 0 4 11.66 1.16 1.16 1 5 12.16 1.66 2.82 2 6 10.18 -0.32 2.50 3 7 8.04 -2.46 0.004 4 8 11.46 0.96 1.00 5 9 9.20 -1.30 0 0
  • 161. Carta EWMA de promedios móviles ponderados exponencialmente P. Reyes
  • 162.
  • 163.
  • 164.
  • 165.
  • 166.
  • 167.
  • 168. Carta EWMA del ejemplo P. Reyes Xewma 1- 52.0 2- 47.0 3- 53.0 4- 49.3 5- 50.1 6- 47.0 7- 51.0 8- 50.1 9- 51.2 10- 50.5 11- 49.6 12- 47.6 13- 49.9 14- 51.3 15- 47.8
  • 169.
  • 170.
  • 171.
  • 172.
  • 173. Carta de control de promedios móviles P. Reyes
  • 174.
  • 175.
  • 176. Ejemplo de carta de promedios móviles P. Reyes Xmm 1- 10.5 2- 6.0 3- 10.0 4- 11.0 5- 12.5 6- 9.5 7- 6.0 8- 10.0 9- 10.5 10- 14.5 11- 9.5 12- 12.0 13- 12.5 14- 10.5 15- 8.0
  • 177. P. Reyes 6. Análisis de capacidad de proceso
  • 178. P. Reyes 6. CONTENIDO Introducción 1. Capacidad a partir de histogramas 2. Capacidad a partir de papel normal 3. Capacidad a partir de cartas de control 4. Capacidad de los sistemas de medición
  • 179. P. Reyes 6.1 Introducción
  • 180. P. Reyes 6.1 Objetivos de la capacidad del proceso 1. Predecir que tanto el proceso cumple especificaciones 2. Apoyar a diseñadores de producto o proceso en sus modificaciones 3. Especificar requerimientos de desempeño para el equipo nuevo 4. Seleccionar proveedores 5. Reducir la variabilidad en el proceso de manufactura 6. Planear la secuencia de producción cuando hay un efecto interactivo de los procesos en las tolerancias
  • 181. P. Reyes _ X Xi s Z LIE LSE p = P(Xi) = porcentaje de partes con probabilidad de estar fuera de Especificaciones
  • 182. P. Reyes ¿Cómo vamos a mejorar esto? Podemos reducir la desviación estándar... Podemos cambiar la media... O (lo ideal sería, por supuesto) que podríamos cambiar ambas Cualquiera que sea la mejora que lleve a cabo, se deben tomar medidas para que se mantenga
  • 183. P. Reyes 6.1 Capacidad a partir de histogramas
  • 184. P. Reyes 6.1 Procedimiento 1. Seleccionar una máquina donde realizar el estudio 2. Seleccionar las condiciones de operación del proceso 3. Seleccionar un operador entrenado 4. El sistema de medición debe tener habilidad (error R&R < 10%) 5. Cuidadosamente colectar la información 6. Construir un histograma de frecuencia con los datos 7. Calcular la media y desviación estándar del proceso
  • 185.
  • 186. P. Reyes 6.1 Capacidad del proceso – Fracción defectiva La capacidad en función de la fracción defectiva del Proceso se calcula En función de la fracción defectiva para cada lado del rango de Especificación. Desv. Est. = Rango medio Constante d2 de acuerdo al tamaño de subgrupo en X-R Los valores de Z inferior y Z superior se calculan de acuerdo a las fórmulas Siguientes: Zi = LIE - promedio del proceso Desviación Estandar LSE - Promedio del proceso Desviación Estandar La fracción defectiva se calcula con las tablas de distribución normal P(Zi) = Área en tabla (-Z) P(Zs) = 1 – Área corresp. a Zs en tabla (+Z) Zs = Fracción defectiva = P(Zi) + P(Zs)
  • 187. P. Reyes 6.1 Capacidad del proceso – Cp y Cpk La capacidad potencial del Proceso (Cp) es una medida de la variación del proceso en relación con el rango de Especificación. Cp = Tolerancia Variación del proceso = LSE - LIE 6 Desviaciones STD. Cpk es una medida de la capacidad real del proceso en función de la posición de la media del proceso (X) en relación con con los límites de especificación. Con límites bilaterales da una indicación del centrado. Es el menor de: CpK = LSE - promedio del proceso 3 desviaciones STD y Promedio del proceso - LIE 3 desviaciones STD La relación de capacidad (CR) es la inversa del cálculo de Cp. Este índice le indica que porcentaje de la especificación está siendo usado por la variación del proceso. CR = Rango del proceso Tolerancia = 6 desviaciones STD LSE - LIE Capacidad Cp, Cpk y fracción defectiva
  • 188. P. Reyes 6.1 Cálculo de la capacidad del proceso Habilidad o capacidad potencial Cp = (LSE - LIE ) / 6  Debe ser  1 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE, LSE) Habilidad o capacidad real Cpk = Menor | Z I - Z S | / 3 El Cpk debe ser  1 para que el proceso cumpla especificaciones
  • 189. P. Reyes 6.1.. Ejemplo Se tomaron los datos siguientes: 265 205 263 307 220 268 260 234 299 197 286 274 243 231 267 281 265 214 346 317 242 258 276 300 208 187 264 280 242 260 321 228 250 299 258 267 265 254 281 294 223 260 308 235 283 200 235 246 328 296 276 264 269 235 221 176 248 263 231 334 280 265 272 265 262 271 245 301 280 274 253 287 261 248 260 274 337 250 278 254 274 278 250 265 270 298 257 210 280 269 215 318 271 293 277 290 283 258 275 251
  • 190. P. Reyes 6.1.. Ejemplo (cont…) Agrupando los datos en celdas se tiene: Intervalo Marca Frecuencia Frecuencia de clase de clase Frecuencia Relativa Absoluta 170 - 189 179.5 2 0.02 0.02 190 - 209 199.5 4 0.04 0.06 210-229 219.5 7 0.07 0.13 230-249 239.5 13 0.13 0.26 250-269 259.5 32 0.32 0.58 270-289 279.5 24 0.24 0.82 290-309 299.5 11 0.11 0.93 310-329 319.5 4 0.04 0.97 330-349 339.5 3 0.03 1.00 .
  • 191. P. Reyes 6.1.. Ejemplo (cont…) El histograma es el siguiente (se observa con forma normal):
  • 192. P. Reyes 6.1.. Ejemplo (cont…) Calculando la media y la desviación estándar se tiene: X-media = 264.06 s = 32.02 La variabilidad del proceso se encuentra en 6  = 192.12 Si las especificaciones fueran LIE = 200 y LSE = 330 Cp = (330 - 200 ) / 192.2 < 1 no es hábil el proceso Zi = (330 - 264.06) / 32.02 Zs = (200 - 264.06) / 32.02 Cpk = menor de Zi y Zs < 1 el proceso no cumple especificaciones
  • 193. P. Reyes 6.1.. Ejercicio Calcular la capacidad del proceso con la distribución de frecuencias siguiente considerando LIE = 530 y LSE = 580: Intervalo Frecuencia Frecuencia de clase Marca de clase Frecuencia Relativa Absoluta . 531 - 535 533 6 536 - 540 538 8 541 - 545 543 12 546 - 550 548 13 551 - 555 553 20 556 - 560 558 19 561 - 565 563 13 566 - 570 568 11 571 - 575 573 8
  • 194. P. Reyes 6.2 Capacidad a partir de papel normal
  • 195. P. Reyes 6.2 Ventajas 1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos como en el histograma, 10 son suficientes 2. El proceso es más sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable en intervalos de clase 3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan a la línea de ajuste 4. Permite identificar la media y la desviación estándar aproximada del proceso. Así como la fracción defectiva, el porcentaje de datos entre cierto rango, el Cp y el Cpk.
  • 196. P. Reyes 6.2..Procedimiento 1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente, asignándoles una posición (j) entre 1 y n. 2. Se calcula la probabilidad de cada posición con la fórmula siguiente: Pj = (j - 0.5) / n 3. En el papel especial normal se grafica cada punto (Xj, Pj) 4. Se ajusta una línea recta que mejor aproxime los puntos 5. Si no hay desviaciones mayores de la línea recta, se considera normal el proceso y se procede a hacer las identificaciones: La media será el punto en X correspondiente a Pj = 0.5 La desv. Estándar es la dif. En Xj correspondiente a Pj = 0.5 y Pj = 0.84
  • 197. P. Reyes 6.2... Ejemplo Se tomaron los datos siguientes (Xj), ordenándolos y calculando la probabilidad de su posición (Pj) Pos.J Valor Xj Pj Pos. J Xj Pj 1 197 0.025 11 271 0.525 2 200 0.075 12 275 0.575 3 215 0.125 13 277 0.625 4 221 0.175 14 278 0.675 5 231 0.225 15 280 0.725 6 242 0.325 16 283 0.775 7 245 0.325 17 290 0.825 8 258 0.375 18 301 0.875 9 265 0.425 19 318 0.925 10 265 0.475 20 346 0.975
  • 198. P. Reyes 6.2... Ejemplo (cont..) Graficando los puntos y ajustándolos con una recta que minimice los errores con cada punto se tiene: 0.5 X Media 0.84 Desv. Estándar Xj Pj LIE Fracción Defectiva
  • 200. P. Reyes P - V a l u e : 0 . 5 3 8 A - S q u a r e d : 0 . 3 1 5 A n d e r s o n - D a r l i n g N o r m a l i t y T e s t N : 1 0 0 S t D e v : 1 3 9 . 6 8 2 A v e r a g e : 5 0 4 . 2 3 2 9 0 0 8 0 0 7 0 0 6 0 0 5 0 0 4 0 0 3 0 0 2 0 0 . 9 9 9 . 9 9 . 9 5 . 8 0 . 5 0 . 2 0 . 0 5 . 0 1 . 0 0 1 P r o b a b i l i t y C 1 N o r m a l P r o b a b i l i t y P l o t El trazo normal es el siguiente: El eje Y es un rango no lineal de probabilidades normales. El eje X es un rango lineal de la variable que se está analizando. Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi, puede predecirse usando una línea sólida como modelo. Por ejemplo, sólo más del 20% de los datos del proceso serían valores de 400 o inferiores.
  • 201. P. Reyes 6.2 Diferentes trazos en papel de probabilidad Normal
  • 202. P. Reyes 6.2 Ejercicio Tomando los datos siguientes (Xj), calcular la probabilidad (Pj), graficar en papel norma, ajustar valores con una recta, determinar la media, desv. Estándar, si las especificaciones son LIE = 1200 y LSE = 1800 determinar la fracción defectiva, el Cp y el Cpk. 1210 2105 1275 2230 1400 2250 1695 2500 1900 2625
  • 203. P. Reyes 6.3 Capacidad a partir de cartas de control
  • 204. P. Reyes EN CASOS ESPECIALES COMO ESTOS DONDE LAS VARIACIONES PRESENTES SON TOTALMENTE INESPERADAS TENEMOSUN PROCESO INESTABLE o “IMPREDECIBLE”. ? ? ? ? ? ? ?
  • 205. P. Reyes 6.3 Proceso en control SI LAS VARIACIONES PRESENTES SON IGUALES, SE DICE QUE SE TIENE UN PROCESO “ESTABLE”. LA DISTRIBUCION SERA “PREDECIBLE” EN EL TIEMPO Predicción Tiempo
  • 206. P. Reyes 6.3 Control y Capacidad de Proceso Control de Proceso: Cuando la única fuente de variación es normal o de causa común, se dice que el proceso esta operando en “CONTROL”. Capacidad de Proceso: Medición estadística de las variaciones de causa común que son demostradas por un proceso. Un proceso es capaz cuando la causa común de variación cae dentro de las especificaciones del cliente. L a capacidad no se puede determinar a menos que el proceso se encuentre en Control y Estable.
  • 207. P. Reyes 6.3 Proceso en control estadístico La distribución de la mayoría de las características medidas forman una curva en forma de campana o normal, si no hay causas especiales presentes, que alteren la normalidad . ¿cuales son las causas comunes? Distribución del Proceso Area entre 0 y 1s -Probabilidad de Ocurrencia _ x = media s= sigma; es la desviación estándar; medida de la variación del proceso. 14 % 14 % 2% 2% -3s -2s -1s x +1s +2s 3s 99.73% 34% 34% x
  • 208. P. Reyes 6.3.. Desviación Estándar del proceso  Donde,  = Desviación estándar de la población d 2 = Factor que depende del tamaño del subgrupo en la carta de control X - R C 4 = Idem al anterior para una carta X - S NOTA: En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y RangoMedio=Suma rangos / (n -1)  = R   = S  d 2 c 4
  • 209. P. Reyes 6.3 Capacidad del proceso Cuando las causas comunes son la única variación: C p El índice de capacidad potencial del proceso compara la amplitud del proceso con la amplitud especificada. Cp = (LSE - LIE) / 6  Cpk El índice de capacidad real del proceso compara la media real con el límite de especificaciones más cercano (LE) a esta. _ Cpk = LE – X o Cpk = menor |Z 1 , Z 2 | / 3 3 
  • 210. P. Reyes 6.3 Ejemplo (carta X - R) De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3 Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:  = X media de medias  = Rmedio / d2 =77.3 / 2.326 = 33.23 [ d2 para n = 5 tiene el valor 2.326] Si el límite de especificación es: LIE = 200. El Cpk = (200 - 264.06) / (77.3) (3) = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las especificaciones
  • 211. P. Reyes 6.3 Ejemplo (carta X - S) De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: Xmedia de medias = 100 Smedio = 1.05 Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:  = X media de medias  = Smedio / C 4 = 1.05 / 0.94 = 1.117 [ C 4 para n = 5 tiene el valor 0.94 ] Si el límite de especificación es: LIE = 85 y el LSE = 105. El Cpk = (105 - 100) / (1.117 ) (3) = 1.492 El Cp = (105 - 85) / 6 (1.117 ) = 2.984 por tanto el proceso es capaz de cumplir con especificaciones
  • 212. P. Reyes 6.3 Ejercicios 1) De una carta de control X - R (con subgrupo n = 8) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes (LIE = 36, LSE = 46): Xmedia de medias = 40 Rmedio = 5 2) De una carta de control X - S (con subgrupo n = 6) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes (LIE = 15, LSE = 23): Xmedia de medias = 20 Smedio = 1.5
  • 213. 6.4 Capacidad de los sistemas de medición P. Reyes
  • 214.
  • 215. 6.4 Posibles Fuentes de la Variación del Proceso P. Reyes La “Repetibilidad” y la “Reproducibilidad” (R&R), son los errores más relevantes en la medición. Variación del proceso, real Variación de la medición Variación total del proceso, observada Reproducibilidad Repetibilidad Variación dentro de la muestra Estabilidad Linealidad Sesgo Variación originada por el calibrador Calibración
  • 216. 6.4 Definición de la Repetibilidad P. Reyes REPETIBILIDAD Repetibilidad: Es la variación de las mediciones obtenidas con un mismo instrumento de medición, cuando es utilizado varias veces por un operador, al mismo tiempo que mide las mismas características en una misma parte y bajo las mismas condiciones de medición.
  • 217. P. Reyes 6.4 Definición de la Reproducibilidad Reproducibilidad: Es la variación, entre promedios de las mediciones hechas por diferentes operadores que utilizan un mismo instrumento de medición cuando miden las mismas características en una misma parte, bajo las mismas condiciones. Reproducibilidad Operador-A Operador-C Operador-B
  • 218.
  • 219.
  • 220. P. Reyes Sesgo es la diferencia entre el promedio observado de las mediciones y el valor verdadero. 6.4 Definición del Sesgo Valor Verdadero Sesgo
  • 221. P. Reyes Estabilidad (o desviación) es la variación total de las mediciones obtenidas con un sistema de medición, hechas sobre el mismo patrón o sobre las mismas partes, cuando se mide una sola de sus características, durante un período de tiempo prolongado. 6.4 Definición de la Estabilidad Tiempo 1 Tiempo 2
  • 222. P. Reyes 6.4 Definición de la Linealidad Linealidad es la diferencia en los valores real y observado, a través del rango de operación esperado del equipo. Rango de Operación del equipo Valor verdadero Valor verdadero Rango inferior Rango superior Sesgo Menor Sesgo mayor
  • 223.
  • 224.
  • 225. P. Reyes EL VALOR DEL R&R ES UN PORCENTAJE DE LA VARIACION TOTAL DEL PROCESO: Mientras más mayor sea el % del R&R, mayor será el área de incertidumbre para conocer la dimensión verdadera de las partes. ERROR TIPO 1: Pueden estarse aceptando partes que están fuera de especificaciones ERROR TIPO 2: Pueden estarse rechazando partes que están dentro de especificaciones Lo que fue medido VARIACIÓN DE PARTE A PARTE LIE LSE OBJETIVO La dimensión verdadera de las partes se encuentra en algún lugar de la la región sombreada…
  • 226.
  • 227.
  • 228.
  • 229.
  • 230.
  • 231. P. Reyes Planteamiento del problema: Las partes producidas en el área de producción, se rechazaron en 3% por problemas dimensionales. 6.4 Ejemplo: CTQ: Mantener una tolerancia ± 0.125” Sistema de Medición : Se miden las partes con un calibrador de 2”. Estudio R&R del La dimensión A es medida por dos Calibrador: operadores, dos veces en 10 piezas.
  • 232. P. Reyes Se toman 5 partes y se miden por ambos operadores: Pieza Operador A Operador B Rango A-B #1 4 2 2 #2 3 4 1 #3 6 7 1 #4 5 7 2 #5 9 8 1 Rango Medio = Suma R / 5 = 7 / 5 = 1.4 El error del sistema de medición = 4.33 * Rmedio = 4.33 x 1.4 = 6.1 El error contra tolerancia = (Error / Tol.) *100, por ejemplo si la tolerancia es de 20, el % de error es de 30.5%, siendo inadecuado . 6.4 Método corto
  • 233. P. Reyes Método Largo con X-media y Rango
  • 234. P. Reyes 1. Cálculo de las X-medias
  • 235. P. Reyes 2. Cálculo de los Rangos LSCR = D4 x Rmedia Probar que ningún rango salga de control Xpartes Rmedio-A Rmedio-B XmediaP
  • 236. P. Reyes Ancho de tolerancia====> Número de intentos => Número de partes ==> Número de operadores  K1 4.56 (K1 = 4.56 para 2 ensayos y 3.05 para 3 ensayos)  K2 3.65 X-media máx.=> X - media min => Diferencia de X-medias R-media de => Todos los operadores K3 (para 10 Partes) 1.62 3. Identificación de Parámetros del Estudio y Cálculos (K2 = 3.65 para 2 operadores y 2.7 para 3 operadores) 0.25 2 10 2 9.3689 9.3584 0.0105 0.0113 r n Rango de Medias de partes Rpartes
  • 237. P. Reyes LCmedias = Xmedia de medias +- A2 x R Carta de Medias X: Gráficar cada una de las medias de las lecturas de cada operador, calcular media de medias y límites de control y verificar que haya cuando menos el 20% de puntos fuera de control, asegurando que el instrumento discrimina las diferentes partes. Carta de Rangos: Graficar los rangos de las lecturas de cada operador, calcular rango promedio de ambos operadores y límites de control, verificar que ningún rango sale de límites, en caso contrario repetir las lecturas fuera de control. 6.4 Cartas de control X - R LCrangos = D4 x Rmedio (de ambos operadores)
  • 238. P. Reyes 0.0515 EV = R x K1 = Repetibilidad: La variación del dispositivo de medición (EV) se calcula sobre cada grupo de mediciones tomadas por un operador, en una sola parte. 0.0259 Reproducibilidad: La variación en el promedio de las mediciones (AV) se calcula sobre el rango de los promedios de todas las mediciones, para cada operador, menos el error del calibrador. Si la raíz es negativa se toma cero. 6.4 Cálculo de R&R AV = (Xdif * K2) 2 - (DV 2 /(r * n)) =
  • 239. P. Reyes R&R = EV 2 + AV 2 = El componente de varianza para Repetibilidad y Reproducibilidad (R&R) se calcula combinando la varianza de cada componente. PV = Rparte x K3 = 0.1021 El componente de varianza para las partes (PV), se calcula sobre el rango de los promedios de todas las mediciones, para cada parte. 0.0577 6.4 Cálculo de R&R
  • 240. P. Reyes TV = R&R 2 + PV 2 = 0.1172 La variación total (TV) se calcula combinando la varianza de Repetibilidad y Reproducibilidad y la variación de la parte. 6.4 Cálculo de R&R 20.61 10.36 23.07 Comparando contra la tolerancia (LSE – LIE): %EV = 100*EV/Ancho de tolerancia = %AV = 100*AV/Ancho de tolerancia = %R&R = 100*R&R/Ancho de tolerancia =
  • 241. P. Reyes Comparando contra la variación Total del proceso : %EV = 100*EV/Variación total = %EV = 100*AV/ Variación total = %R&R = 100*R&R/ Variación total = %PV = 100*PV Variación total = CRITERIO: El % R&R debe ser menor al 10% 43.95 22.10 49.20 87.06 6.4 Cálculo de R&R
  • 242. P. Reyes 6.4 Ejercicios Para un estudio de R&R 2 operadores midieron con el mismo equipo de medición 10 partes en 3 intentos cada uno,obteniendo: Mediciones Mediciones Número de operador A de operador B de parte 1 2 3 1 2 3 1 50 49 50 50 48 51 2 52 52 51 51 51 51 3 53 50 50 54 52 51 4 49 51 50 48 50 51 5 48 49 48 48 49 48 6 52 50 50 52 50 50 7 51 51 51 51 50 50 8 52 50 49 53 48 50 9 50 51 50 51 48 49 10 47 46 49 46 47 48
  • 243. P. Reyes 7. Métodos de mejora continua
  • 244.
  • 245. P. Reyes 7.1 Proceso de Cambio organizacional
  • 246.
  • 247.
  • 248. P. Reyes Facilitador de Procesos de Recursos Humanos Facilitador de Procesos / Proyectos Facilitador de Mantenimiento / Proyectos P a t r o c i n a d o r e s 7.1 Organización Multifuncional Tipos de equipos: Kaizen, Tarea, Proyectos, CCC, celdas de mfra., unidades de negocio Tea